缺陷检查装置和缺陷检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880100367.7

申请日：

2018-12-20

公开(公告)号：

CN113227781A

公开(公告)日：

2021-08-06

发明(设计)人：

畠堀贵秀田窪健二吉田康纪

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01N2924

IPC分类号：

G01N2188 G01N2906

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-06	公开	公开
2021-08-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/24 申请日:20181220

共 50 条

[1]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 ;

吉田康纪 .

日本专利 :CN113227781B ,2024-02-13

[2]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

柳濑正和 .

中国专利 :CN103620482B ,2014-03-05

[3]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

谭小地 .

中国专利 :CN102012376B ,2011-04-13

[4]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

吉田康纪 ;

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN113646627A ,2021-11-12

[5]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

吉田康纪 ;

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN113167767A ,2021-07-23

[6]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

山口升 ;

石川雄大 .

中国专利 :CN1940540A ,2007-04-04

[7]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

高木修 .

中国专利 :CN101738401A ,2010-06-16

[8]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

吉田康纪 ;

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

日本专利 :CN113646627B ,2024-01-05

[9]

缺陷检查方法和缺陷检查装置 [P].

小林信次 ;

松田俊介 .

日本专利 :CN116648618B ,2025-05-02

[10]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

藤木翔太 ;

尾崎新斗 .

日本专利 :CN118777302A ,2024-10-15

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