缺陷检查装置和缺陷检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910211124.3

申请日：

2009-11-05

公开(公告)号：

CN101738401A

公开(公告)日：

2010-06-16

发明(设计)人：

高木修

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N21956

IPC分类号：

G02F113

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

黄纶伟;马建军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-06-16	公开	公开
2013-12-11	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101678653772 IPC(主分类):G01N 21/956 专利申请号:2009102111243 申请公布日:20100616
2011-12-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101151318049 IPC(主分类):G01N 21/956 专利申请号:2009102111243 申请日:20091105

共 50 条

[1]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

柳濑正和 .

中国专利 :CN103620482B ,2014-03-05

[2]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

谭小地 .

中国专利 :CN102012376B ,2011-04-13

[3]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

吉田康纪 ;

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN113646627A ,2021-11-12

[4]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

吉田康纪 ;

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN113167767A ,2021-07-23

[5]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

山口升 ;

石川雄大 .

中国专利 :CN1940540A ,2007-04-04

[6]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

吉田康纪 ;

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

日本专利 :CN113646627B ,2024-01-05

[7]

缺陷检查方法和缺陷检查装置 [P].

小林信次 ;

松田俊介 .

日本专利 :CN116648618B ,2025-05-02

[8]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 ;

吉田康纪 .

日本专利 :CN113227781B ,2024-02-13

[9]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 ;

吉田康纪 .

中国专利 :CN113227781A ,2021-08-06

[10]

缺陷检查装置和缺陷检查方法 [P].

藤木翔太 ;

尾崎新斗 .

日本专利 :CN118777302A ,2024-10-15

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