一种屈光测试卡及其测量方法

被引：0

申请号：

CN202110083915.3

申请日：

2021-01-21

公开(公告)号：

CN114795100A

公开(公告)日：

2022-07-29

发明(设计)人：

刘振灏刘振勃

申请人：

申请人地址：

上海市徐汇区永嘉路570号4号楼421室

IPC主分类号：

A61B3032

IPC分类号：

A61B3028 A61B3036

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

郭蔚

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 3/032 申请日:20210121
2022-07-29	公开	公开

共 50 条

[1]

一种屈光测试卡及其测量方法 [P].

刘振灏 ;

刘振勃 .

中国专利 :CN114795100B ,2025-11-28

[2]

光学装置、屈光测量系统、屈光测量方法及其装置 [P].

付威威 ;

耿康杰 ;

刘敏 ;

张贺童 ;

丁上上 ;

冯斌 .

中国专利 :CN117378996A ,2024-01-12

[3]

一种屈光测试卡 [P].

刘振灏 ;

刘振勃 .

中国专利 :CN214965399U ,2021-12-03

[4]

一种基于OCT技术的周边屈光测量方法 [P].

袁一明 ;

吕帆 ;

沈梅晓 ;

朱德喜 .

中国专利 :CN103142210A ,2013-06-12

[5]

运动图象拖尾时间测试卡及其测量方法 [P].

徐康兴 .

中国专利 :CN1761330A ,2006-04-19

[6]

一种光散射参量测量系统及其测量方法 [P].

何向阁 ;

张敏 ;

刘飞 ;

古利娟 ;

卢海龙 .

中国专利 :CN112504629A ,2021-03-16

[7]

一种手镯尺寸的便利测量卡及其测量方法 [P].

范春丽 ;

李建军 ;

王岳 ;

王义善 ;

程佑法 .

中国专利 :CN105021108A ,2015-11-04

[8]

光测量装置、光测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

安斋由美子 .

日本专利 :CN120187998A ,2025-06-20

[9]

屈光信息测量方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

冬雪川 ;

郭静云 ;

滕友峰 ;

崔焱 ;

高帆 .

中国专利 :CN118490158A ,2024-08-16

[10]

一种光器件测量方法 [P].

潘时龙 ;

薛敏 ;

赵永久 .

中国专利 :CN103424242B ,2013-12-04

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