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一种光散射参量测量系统及其测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011326821.6
申请日
:
2020-11-24
公开(公告)号
:
CN112504629A
公开(公告)日
:
2021-03-16
发明(设计)人
:
何向阁
张敏
刘飞
古利娟
卢海龙
申请人
:
申请人地址
:
100871 北京市海淀区颐和园路5号
IPC主分类号
:
G01M1100
IPC分类号
:
G01M1102
代理机构
:
北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360
代理人
:
王岩
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/00 申请日:20201124
2021-03-16
公开
公开
2021-08-24
授权
授权
共 50 条
[1]
拉曼散射光测量系统、拉曼散射光测量方法
[P].
重川秀实
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机构:
比奥埃克塞勒拉托尔株式会社
比奥埃克塞勒拉托尔株式会社
重川秀实
;
岚田雄介
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机构:
比奥埃克塞勒拉托尔株式会社
比奥埃克塞勒拉托尔株式会社
岚田雄介
.
日本专利
:CN118176416A
,2024-06-11
[2]
散射光测量方法
[P].
K.施滕格尔
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K.施滕格尔
;
G.哈加
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G.哈加
;
M.诺伊恩多夫
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M.诺伊恩多夫
;
R.西格
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R.西格
.
中国专利
:CN103026201B
,2013-04-03
[3]
测量系统及其测量方法
[P].
林祐瑄
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林祐瑄
;
刘大纲
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刘大纲
.
中国专利
:CN110161977B
,2019-08-23
[4]
测量方法及其测量系统
[P].
顿胜堡
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顿胜堡
;
吴忠宝
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吴忠宝
;
孙力
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孙力
;
来航曼
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来航曼
;
魏燕
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魏燕
;
张志英
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张志英
;
赵伟利
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赵伟利
.
中国专利
:CN107024337B
,2017-08-08
[5]
测量方法及其测量系统
[P].
陈鲁
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陈鲁
;
吕肃
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吕肃
;
李青格乐
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李青格乐
;
张嵩
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张嵩
.
中国专利
:CN110940267A
,2020-03-31
[6]
光散射装置、颗粒物浓度测量系统和测量方法
[P].
敖小强
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敖小强
;
李永帅
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李永帅
;
陈景卫
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陈景卫
.
中国专利
:CN109655388A
,2019-04-19
[7]
一种散射测量装置及散射测量方法
[P].
周钰颖
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周钰颖
.
中国专利
:CN113124751B
,2021-07-16
[8]
一种散射测量装置及散射测量方法
[P].
周钰颖
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周钰颖
;
王帆
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王帆
.
中国专利
:CN112764317A
,2021-05-07
[9]
散射测量方法及散射测量装置
[P].
邹峥
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
邹峥
;
贺军
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
贺军
;
吴乐忠
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
吴乐忠
.
中国专利
:CN118464843B
,2024-11-15
[10]
一种液体散射测量装置及其测量方法
[P].
甘海勇
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甘海勇
;
吴厚平
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吴厚平
;
刘子龙
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刘子龙
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冯国进
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冯国进
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赫英威
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赫英威
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徐楠
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徐楠
;
林延东
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林延东
.
中国专利
:CN109540844B
,2019-03-29
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