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计测系统、计测装置、计测方法以及记录介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010406289.2
申请日
:
2020-05-14
公开(公告)号
:
CN111947568A
公开(公告)日
:
2020-11-17
发明(设计)人
:
付星斗
苗林
申请人
:
申请人地址
:
日本国京都府京都市
IPC主分类号
:
G01B1100
IPC分类号
:
G01B1124
G01B2100
G01B2120
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
邓毅;黄纶伟
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-11-17
公开
公开
2020-12-04
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20200514
2021-11-02
授权
授权
共 50 条
[1]
计测方法、计测装置、计测系统以及存储介质
[P].
小林祥宏
论文数:
0
引用数:
0
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0
小林祥宏
.
中国专利
:CN113494951A
,2021-10-12
[2]
计测装置、计测方法以及计测程序
[P].
苗林
论文数:
0
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0
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0
苗林
;
付星斗
论文数:
0
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0
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0
付星斗
.
中国专利
:CN113811740A
,2021-12-17
[3]
计测装置、计测方法、记录介质
[P].
滨川圭太
论文数:
0
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0
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0
滨川圭太
;
井上雄介
论文数:
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0
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井上雄介
;
高桥寻之
论文数:
0
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0
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0
高桥寻之
;
山田孝纯
论文数:
0
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0
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山田孝纯
.
中国专利
:CN114563034A
,2022-05-31
[4]
计测装置、计测方法以及计测程序
[P].
头本赖数
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏布雷印股份有限公司
苏布雷印股份有限公司
头本赖数
.
日本专利
:CN121219600A
,2025-12-26
[5]
闪烁计测装置以及计测方法
[P].
增田敏
论文数:
0
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0
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0
增田敏
.
中国专利
:CN114616444A
,2022-06-10
[6]
计测装置以及计测方法
[P].
德崎裕幸
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德崎裕幸
;
今井纮
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今井纮
;
大野泰和
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0
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大野泰和
;
松浦圭记
论文数:
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0
松浦圭记
.
中国专利
:CN105026940A
,2015-11-04
[7]
计测系统以及记录有计测程序的记录介质
[P].
武田裕
论文数:
0
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武田裕
;
中村博昭
论文数:
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中村博昭
.
中国专利
:CN115704675A
,2023-02-17
[8]
计测装置、计测方法及计测程序
[P].
广井公彦
论文数:
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0
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广井公彦
;
关口亮太
论文数:
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0
关口亮太
.
中国专利
:CN113396339A
,2021-09-14
[9]
计测装置、蓄电装置、计测系统、偏移误差的计测方法
[P].
今中佑树
论文数:
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机构:
株式会社杰士汤浅国际
株式会社杰士汤浅国际
今中佑树
;
高井诚治
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机构:
株式会社杰士汤浅国际
株式会社杰士汤浅国际
高井诚治
;
井村雅行
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0
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机构:
株式会社杰士汤浅国际
株式会社杰士汤浅国际
井村雅行
.
日本专利
:CN111433613B
,2025-02-25
[10]
计测装置、蓄电装置、计测系统、偏移误差的计测方法
[P].
今中佑树
论文数:
0
引用数:
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今中佑树
;
高井诚治
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高井诚治
;
井村雅行
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0
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井村雅行
.
中国专利
:CN111433613A
,2020-07-17
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