计测装置以及计测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480012921.8

申请日：

2014-01-22

公开(公告)号：

CN105026940A

公开(公告)日：

2015-11-04

发明(设计)人：

德崎裕幸今井纮大野泰和松浦圭记

申请人：

申请人地址：

日本国京都府京都市

IPC主分类号：

G01R1900

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

李辉;黄纶伟

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-11-04	公开	公开
2017-08-25	授权	授权
2015-12-02	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101635127880 IPC(主分类):G01R 19/00 专利申请号:2014800129218 申请日:20140122

共 50 条

[1]

计测装置、计测方法以及计测程序 [P].

头本赖数 .

日本专利 :CN121219600A ,2025-12-26

[2]

计测方法、计测装置、计测系统以及存储介质 [P].

小林祥宏 .

中国专利 :CN113494951A ,2021-10-12

[3]

计测装置、计测方法以及计测程序 [P].

苗林 ;

付星斗 .

中国专利 :CN113811740A ,2021-12-17

[4]

闪烁计测装置以及计测方法 [P].

增田敏 .

中国专利 :CN114616444A ,2022-06-10

[5]

计测系统、计测装置、计测方法以及记录介质 [P].

付星斗 ;

苗林 .

中国专利 :CN111947568A ,2020-11-17

[6]

位移计测装置以及位移计测方法 [P].

野田晃浩 ;

日下博也 ;

今川太郎 .

日本专利 :CN110023712B ,2024-08-16

[7]

位移计测装置以及位移计测方法 [P].

野田晃浩 ;

日下博也 ;

今川太郎 .

中国专利 :CN110023712A ,2019-07-16

[8]

激光计测方法以及激光计测装置 [P].

水岛洋哉 .

日本专利 :CN121079569A ,2025-12-05

[9]

磁场计测方法以及磁场计测装置 [P].

长坂公夫 .

中国专利 :CN105589048B ,2016-05-18

[10]

计测装置、计测方法及计测程序 [P].

广井公彦 ;

关口亮太 .

中国专利 :CN113396339A ,2021-09-14

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