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位移计测装置以及位移计测方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201780073165.3
申请日：
2017-09-25
公开(公告)号：
CN110023712A
公开(公告)日：
2019-07-16
发明(设计)人：
野田晃浩
日下博也
今川太郎
申请人：
申请人地址：
日本国大阪府
IPC主分类号：
G01B1116
IPC分类号：
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
齐秀凤
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-07-16 | 公开 | 公开 |