存储器内建自测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810045810.3

申请日：

2008-08-14

公开(公告)号：

CN101339811A

公开(公告)日：

2009-01-07

发明(设计)人：

杨修唐杜娟

申请人：

申请人地址：

610041四川省成都市高新区孵化园7号楼409室

IPC主分类号：

G11C2912

IPC分类号：

G11C2924

代理机构：

成都天嘉专利事务所

代理人：

方强

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-02-25	实质审查的生效	实质审查的生效
2012-07-25	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101430731936 IPC(主分类):G11C 29/12 专利申请号:2008100458103 公开日:20090107
2009-01-07	公开	公开

共 50 条

[1]

存储器内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30

[2]

存储器内建自测试方法及其装置 [P].

孙圆圆 ;

王佳 .

中国专利 :CN117766010A ,2024-03-26

[3]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

[4]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372A ,2025-03-25

[5]

存储器的内建自测试系统 [P].

彭涛 .

中国专利 :CN111292795B ,2020-06-16

[6]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372B ,2025-10-21

[7]

存储器、内建自测试方法和测试系统 [P].

张瑞 .

中国专利 :CN118824336B ,2025-10-03

[8]

存储器的内建自测试系统 [P].

王建群 ;

徐成宇 .

中国专利 :CN120164513A ,2025-06-17

[9]

存储器、内建自测试方法和测试系统 [P].

张瑞 .

中国专利 :CN118824336A ,2024-10-22

[10]

内建自测试方法、内建自测试装置及半导体存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

陈继兴 .

中国专利 :CN117766008A ,2024-03-26

← 1 2 3 4 5 →