一种IO测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011376379.8

申请日：

2020-11-30

公开(公告)号：

CN112730900B

公开(公告)日：

2021-04-30

发明(设计)人：

朱翔赵云建于小建吴宗喜郭东明

申请人：

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区云谷路3188-1号(合肥出口加工区内)

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3101

代理机构：

北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734

代理人：

刘婧

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-30	公开	公开
2021-05-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20201130
2022-04-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种IO测试设备及IO测试系统 [P].

朱翔 ;

赵云建 ;

于小建 ;

吴宗喜 ;

郭东明 .

中国专利 :CN112649718B ,2021-04-13

[2]

一种测试设备及测试方法 [P].

董泽胤 ;

龙智明 ;

杨广明 ;

曾凡胜 ;

张杰 .

中国专利 :CN119778251A ,2025-04-08

[3]

一种测试系统的测试方法及测试系统 [P].

高建辉 ;

黄国书 ;

张向军 .

中国专利 :CN117470503A ,2024-01-30

[4]

一种隔音测试房及测试方法 [P].

阳志林 ;

赵佳林 .

中国专利 :CN117905310A ,2024-04-19

[5]

一种静电放电测试系统及测试方法 [P].

李锐锋 ;

王林 ;

刘新润 ;

胡少年 ;

周宣 ;

李兴旺 ;

夏清文 .

中国专利 :CN119024072A ,2024-11-26

[6]

一种IO路径定位方法、装置、设备及可读存储介质 [P].

刚亚州 .

中国专利 :CN110674097A ,2020-01-10

[7]

一种电池片测试机构 [P].

张学强 ;

戴军 ;

张建伟 ;

罗银兵 .

中国专利 :CN209731189U ,2019-12-03

[8]

一种封装基板测试装置及测试方法 [P].

张富轩 ;

朱瑞平 ;

崔草香 ;

郭柏君 ;

吕勇 ;

张春扬 ;

李晓东 .

中国专利 :CN120009705A ,2025-05-16

[9]

一种串口闪存芯片测试系统和测试方法 [P].

陈耀闯 ;

董亚明 .

中国专利 :CN114610549A ,2022-06-10

[10]

一种弹簧测试系统和方法 [P].

冯庆芳 ;

茅纯中 ;

丁乃平 ;

郑俊美 ;

孙秉刚 ;

潘一彬 .

中国专利 :CN106353081A ,2017-01-25

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