用于检查异物的检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201180059333.6

申请日：

2011-11-08

公开(公告)号：

CN103261882A

公开(公告)日：

2013-08-21

发明(设计)人：

J·赫尔曼 C·弗里切 M·M·赫尔曼 A·德伦吉斯

申请人：

申请人地址：

德国多特蒙德

IPC主分类号：

G01N2904

IPC分类号：

G01N2922

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

周家新;蔡洪贵

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-08-21	公开	公开
2015-05-20	授权	授权
2013-09-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101520129144 IPC(主分类):G01N 29/04 专利申请号:2011800593336 申请日:20111108
2019-11-01	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 29/04 申请日:20111108 授权公告日:20150520 终止日期:20181108

共 50 条

[1]

异物检查装置以及异物检查方法 [P].

加集功士 .

中国专利 :CN110333255A ,2019-10-15

[2]

异物检查装置和异物检查方法 [P].

饭野正义 ;

中野裕已 ;

矢泽康弘 ;

前田浩平 ;

中岛大辅 .

中国专利 :CN112666175A ,2021-04-16

[3]

用于检查杂质的检查装置 [P].

J·赫尔曼 ;

W·朔恩 .

中国专利 :CN103282771A ,2013-09-04

[4]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

佐野荣一 ;

中村瑞树 .

日本专利 :CN113490844B ,2024-08-16

[5]

异物检查装置及异物检查系统 [P].

八重樫卓也 ;

田中良 .

中国专利 :CN108449986A ,2018-08-24

[6]

异物检查装置以及异物检查方法 [P].

福田裕久 ;

浅野国隆 ;

片根忠弘 ;

山崎浩美 .

中国专利 :CN102918382A ,2013-02-06

[7]

异物检查装置以及异物检查方法 [P].

加集功士 .

中国专利 :CN110333256A ,2019-10-15

[8]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

佐野荣一 ;

中村瑞树 .

中国专利 :CN112236671A ,2021-01-15

[9]

异物检查方法以及异物检查装置 [P].

木村树 ;

浅田竜幸 ;

小池良树 .

日本专利 :CN113030092B ,2024-04-05

[10]

异物检查装置及异物检查方法 [P].

佐野荣一 ;

中村瑞树 .

日本专利 :CN112262313B ,2024-08-16

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