芯片测试工具及芯片测试装置

被引：0

申请号：

CN202123348546.0

申请日：

2021-12-28

公开(公告)号：

CN217133316U

公开(公告)日：

2022-08-05

发明(设计)人：

朱玥琦王玉忠胡吉何绿民朱捷

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

IPC主分类号：

G01R31303

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

张雪;张颖玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-05	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试工具 [P].

王秀军 ;

陈爱兵 ;

韩元成 ;

萧任村 ;

王浚腾 .

中国专利 :CN104483517B ,2015-04-01

[2]

芯片测试装置及芯片 [P].

彭日强 ;

张宏达 ;

李凯泽 ;

张士涛 ;

郑晓 .

中国专利 :CN222259504U ,2024-12-27

[3]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[4]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

高伟 ;

孙文琪 .

中国专利 :CN118838765A ,2024-10-25

[5]

芯片测试系统及芯片测试装置 [P].

焦继业 ;

刘俊波 ;

李辉 ;

王暾烜 .

中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08

[6]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

高伟 ;

孙文琪 .

中国专利 :CN118838765B ,2025-11-07

[7]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112802536A ,2021-05-14

[8]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

官绪冬 .

中国专利 :CN113866589A ,2021-12-31

[9]

芯片测试装置及芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

罗双武 .

中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11

[10]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

马超 ;

刘耀煌 ;

李金金 ;

黄秋元 ;

周鹏 .

中国专利 :CN113759239B ,2021-12-07

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