芯片测试方法及芯片测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411005309.X

申请日：

2024-07-25

公开(公告)号：

CN118838765B

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

高伟孙文琪

申请人：

联和存储科技（江苏）有限公司

申请人地址：

214000 江苏省无锡市无锡经济开发区新园路富力中心C5-401-03

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F7/58 G11C29/56

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426

代理人：

隆毅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240725
2025-11-07	授权	授权
2024-10-25	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

高伟 ;

孙文琪 .

中国专利 :CN118838765A ,2024-10-25

[2]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[3]

芯片测试系统及芯片测试装置 [P].

焦继业 ;

刘俊波 ;

李辉 ;

王暾烜 .

中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08

[4]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

官绪冬 .

中国专利 :CN113866589A ,2021-12-31

[5]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

马超 ;

刘耀煌 ;

李金金 ;

黄秋元 ;

周鹏 .

中国专利 :CN113759239B ,2021-12-07

[6]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[7]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

孙浩涛 ;

尹文芹 ;

贾红 ;

程显志 ;

陈维新 ;

韦嶔 .

中国专利 :CN109307833A ,2019-02-05

[8]

芯片测试头、芯片测试装置及测试方法 [P].

刘浩 ;

李亮 ;

肖裕权 .

中国专利 :CN107454938B ,2017-12-08

[9]

芯片测试装置、测试系统及芯片测试方法 [P].

林扬书 ;

林楷辉 ;

方坤 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN117761520A ,2024-03-26

[10]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试装置的制备方法 [P].

李磊 ;

陶军磊 ;

武绍军 ;

赵南 ;

蒋尚轩 .

中国专利 :CN120142892A ,2025-06-13

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