芯片测试方法及芯片测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411005309.X

申请日：

2024-07-25

公开(公告)号：

CN118838765B

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

高伟孙文琪

申请人：

联和存储科技（江苏）有限公司

申请人地址：

214000 江苏省无锡市无锡经济开发区新园路富力中心C5-401-03

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F7/58 G11C29/56

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426

代理人：

隆毅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240725
2025-11-07	授权	授权
2024-10-25	公开	公开

共 50 条

[41]

芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19

[42]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28

[43]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[44]

芯片测试头与芯片测试装置 [P].

张伟宏 ;

兰雄 ;

唐鹏辉 .

中国专利 :CN207036553U ,2018-02-23

[45]

芯片测试压头和芯片测试装置 [P].

王攀 ;

段源鸿 ;

王华杲 .

中国专利 :CN211348543U ,2020-08-25

[46]

芯片测试机和芯片测试装置 [P].

陈群 ;

彭报 .

中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25

[47]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180B ,2025-05-02

[48]

芯片测试装置与芯片测试系统 [P].

彭聪 ;

李康 .

中国专利 :CN113791333A ,2021-12-14

[49]

芯片测试组件和芯片测试装置 [P].

赵海洋 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

揭佳林 ;

范志超 ;

曾岩 ;

李安平 .

中国专利 :CN212808508U ,2021-03-26

[50]

芯片测试夹具和芯片测试装置 [P].

张婵娟 ;

王国峰 .

中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02

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