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芯片测试方法及芯片测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411005309.X
申请日：
2024-07-25
公开(公告)号：
CN118838765B
公开(公告)日：
2025-11-07
发明(设计)人：
高伟
孙文琪
申请人：
联和存储科技（江苏）有限公司
申请人地址：
214000 江苏省无锡市无锡经济开发区新园路富力中心C5-401-03
IPC主分类号：
G06F11/22
IPC分类号：
G06F7/58
G11C29/56
代理机构：
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426
代理人：
隆毅
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-11-12 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240725 |
| 2025-11-07 | 授权 | 授权 |
| 2024-10-25 | 公开 | 公开 |