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芯片测试装置及方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201110000223.4
申请日：
2011-01-04
公开(公告)号：
CN102129025A
公开(公告)日：
2011-07-20
发明(设计)人：
黄新
申请人：
申请人地址：
215163 江苏省苏州市高新区科技城培源路2号微系统园M1栋3楼
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2011-07-20 | 公开 | 公开 |
| 2013-09-11 | 发明专利申请公布后的视为撤回 | 发明专利申请公布后的视为撤回 号牌文件序号:101656863508 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2011100002234 申请公布日:20110720 号牌文件类型代码:1603 |
| 2011-08-31 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101102908669 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2011100002234 申请日:20110104 |