芯片测试装置和芯片测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710722024.1

申请日：

2017-08-22

公开(公告)号：

CN107544019A

公开(公告)日：

2018-01-05

发明(设计)人：

华正明

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区清河中街68号华润五彩城购物中心二期9层01房间

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138

代理人：

林锦澜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-01-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20170822
2021-08-10	授权	授权
2018-01-05	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试装置和芯片测试方法 [P].

魏斌 ;

成嵩 ;

窦志军 ;

王栋 ;

徐靖林 ;

金锐 .

中国专利 :CN112100015A ,2020-12-18

[2]

芯片测试装置和方法 [P].

翟芳 ;

黄伟冠 ;

肖慧 .

中国专利 :CN118473407A ,2024-08-09

[3]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[4]

芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19

[5]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[6]

芯片测试压头和芯片测试装置 [P].

王攀 ;

段源鸿 ;

王华杲 .

中国专利 :CN211348543U ,2020-08-25

[7]

芯片测试机和芯片测试装置 [P].

陈群 ;

彭报 .

中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25

[8]

芯片测试组件和芯片测试装置 [P].

赵海洋 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

揭佳林 ;

范志超 ;

曾岩 ;

李安平 .

中国专利 :CN212808508U ,2021-03-26

[9]

芯片测试夹具和芯片测试装置 [P].

张婵娟 ;

王国峰 .

中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02

[10]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

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