芯片测试组件和芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202021223630.2

申请日：

2020-06-29

公开(公告)号：

CN212808508U

公开(公告)日：

2021-03-26

发明(设计)人：

赵海洋刘伟刘乐魏寅揭佳林范志超曾岩李安平

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3101 G01R104

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

何丹灵

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-11	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:专利权人变更前:深圳米飞泰克科技有限公司变更后:深圳米飞泰克科技股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层变更后:518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层
2021-03-26	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[2]

芯片测试下盖组件及芯片测试装置 [P].

杨建设 ;

张雅凯 ;

彭磊 .

中国专利 :CN222979730U ,2025-06-13

[3]

芯片测试装置和芯片测试方法 [P].

魏斌 ;

成嵩 ;

窦志军 ;

王栋 ;

徐靖林 ;

金锐 .

中国专利 :CN112100015A ,2020-12-18

[4]

芯片测试装置及芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

罗双武 .

中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11

[5]

芯片高速测试连接组件及芯片测试装置 [P].

何仕达 ;

章喆 ;

杨涛 ;

王志涛 ;

孔令术 .

中国专利 :CN119864699A ,2025-04-22

[6]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[7]

芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19

[8]

芯片测试压头和芯片测试装置 [P].

王攀 ;

段源鸿 ;

王华杲 .

中国专利 :CN211348543U ,2020-08-25

[9]

芯片测试机和芯片测试装置 [P].

陈群 ;

彭报 .

中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25

[10]

芯片测试装置和芯片测试方法 [P].

华正明 .

中国专利 :CN107544019A ,2018-01-05

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