芯片测试装置和芯片测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011301399.9

申请日：

2020-11-19

公开(公告)号：

CN112100015A

公开(公告)日：

2020-12-18

发明(设计)人：

魏斌成嵩窦志军王栋徐靖林金锐

申请人：

申请人地址：

100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼

IPC主分类号：

G06F1126

IPC分类号：

G06F1136 G01R3128

代理机构：

北京润平知识产权代理有限公司 11283

代理人：

肖冰滨;王晓晓

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-26	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F 11/26 申请公布日:20201218
2020-12-18	公开	公开
2021-01-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/26 申请日:20201119

共 50 条

[1]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[2]

芯片测试组件和芯片测试装置 [P].

赵海洋 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

揭佳林 ;

范志超 ;

曾岩 ;

李安平 .

中国专利 :CN212808508U ,2021-03-26

[3]

芯片测试装置和芯片测试方法 [P].

华正明 .

中国专利 :CN107544019A ,2018-01-05

[4]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[5]

芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19

[6]

芯片测试压头和芯片测试装置 [P].

王攀 ;

段源鸿 ;

王华杲 .

中国专利 :CN211348543U ,2020-08-25

[7]

芯片测试机和芯片测试装置 [P].

陈群 ;

彭报 .

中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25

[8]

芯片测试夹具和芯片测试装置 [P].

张婵娟 ;

王国峰 .

中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02

[9]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28

[10]

芯片测试装置及芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

罗双武 .

中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11

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