限位框、芯片测试装置及芯片测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310264346.8

申请日：

2013-06-27

公开(公告)号：

CN104251922B

公开(公告)日：

2014-12-31

发明(设计)人：

李中政李志雄

申请人：

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一专利商标事务所 44237

代理人：

张全文

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-01-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101596397969 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2013102643468 申请日:20130627
2014-12-31	公开	公开
2017-05-03	授权	授权
2019-01-22	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 1/04 变更事项:专利权人变更前:深圳市江波龙电子有限公司变更后:深圳市江波龙电子股份有限公司变更事项:地址变更前:518057 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1 变更后:518057 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1

共 50 条

[1]

限位框及具有该限位框的芯片测试装置 [P].

李光裕 ;

李志雄 ;

李中政 .

中国专利 :CN203414490U ,2014-01-29

[2]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[3]

芯片测试散热组件及芯片测试装置 [P].

何仕达 ;

章喆 ;

杨涛 ;

王志涛 ;

孔令术 .

中国专利 :CN119789381A ,2025-04-08

[4]

芯片测试装置及系统 [P].

林小东 ;

夏嵩 ;

郭航旗 .

中国专利 :CN120103110A ,2025-06-06

[5]

芯片测试压块组件、芯片测试夹具及芯片测试装置 [P].

冯恒超 ;

杨小明 .

中国专利 :CN118294703A ,2024-07-05

[6]

芯片测试电路、测试方法及测试装置 [P].

魏津 ;

胡雪原 ;

徐润生 .

中国专利 :CN113567841A ,2021-10-29

[7]

芯片的测试装置及测试方法 [P].

谷士豪 .

中国专利 :CN118294784A ,2024-07-05

[8]

芯片测试器、其制造方法及芯片测试装置 [P].

常文龙 .

中国专利 :CN117590205B ,2024-04-05

[9]

芯片测试器、其制造方法及芯片测试装置 [P].

常文龙 .

中国专利 :CN117590205A ,2024-02-23

[10]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28

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