芯片测试头、芯片测试装置及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780000491.1

申请日：

2017-06-05

公开(公告)号：

CN107454938B

公开(公告)日：

2017-12-08

发明(设计)人：

刘浩李亮肖裕权

申请人：

申请人地址：

518045 广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层

IPC主分类号：

G01N2147

IPC分类号：

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-01-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/47 申请日:20170605
2021-06-25	授权	授权
2017-12-08	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试头与芯片测试装置 [P].

张伟宏 ;

兰雄 ;

唐鹏辉 .

中国专利 :CN207036553U ,2018-02-23

[2]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[3]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

高伟 ;

孙文琪 .

中国专利 :CN118838765A ,2024-10-25

[4]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

高伟 ;

孙文琪 .

中国专利 :CN118838765B ,2025-11-07

[5]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

官绪冬 .

中国专利 :CN113866589A ,2021-12-31

[6]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

马超 ;

刘耀煌 ;

李金金 ;

黄秋元 ;

周鹏 .

中国专利 :CN113759239B ,2021-12-07

[7]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[8]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

孙浩涛 ;

尹文芹 ;

贾红 ;

程显志 ;

陈维新 ;

韦嶔 .

中国专利 :CN109307833A ,2019-02-05

[9]

芯片测试装置、测试头以及芯片测试系统 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN216285573U ,2022-04-12

[10]

芯片测试装置、测试系统及芯片测试方法 [P].

林扬书 ;

林楷辉 ;

方坤 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN117761520A ,2024-03-26

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