一种衍射光谱测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200620128014.2

申请日：

2006-10-27

公开(公告)号：

CN201016805Y

公开(公告)日：

2008-02-06

发明(设计)人：

李捷

申请人：

申请人地址：

030024山西省太原市迎泽西大街79号

IPC主分类号：

G01J318

IPC分类号：

G01J328

代理机构：

太原市科瑞达专利代理有限公司

代理人：

庞建英

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-02-06	授权	授权
2011-01-05	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101028887772 IPC(主分类):G01J 3/18 专利号:ZL2006201280142 申请日:20061027 授权公告日:20080206 终止日期:20091127

共 50 条

[1]

一种衍射光谱测量系统 [P].

李捷 .

中国专利 :CN1945241A ,2007-04-11

[2]

光栅平面镜衍射光谱测量系统及应用 [P].

贺晓宏 ;

汤洪明 ;

李君良 ;

魏循 ;

王纪龙 ;

王云才 .

中国专利 :CN1431476A ,2003-07-23

[3]

光谱测量系统 [P].

周安萌 .

中国专利 :CN214372918U ,2021-10-08

[4]

一种光谱测量装置和测量系统 [P].

尹金德 ;

段辉雄 ;

闫培光 ;

张敏 ;

陈浩 ;

郭凯 .

中国专利 :CN212722598U ,2021-03-16

[5]

光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P].

郑云 ;

陈东 ;

余良军 .

中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02

[6]

一种光谱测量系统 [P].

潘蔚 ;

唐义 ;

李瀚波 .

中国专利 :CN201885801U ,2011-06-29

[7]

新型光栅衍射效率光谱测量装置 [P].

王圣浩 ;

吴福林 ;

刘世杰 .

中国专利 :CN216955083U ,2022-07-12

[8]

一种光谱测量装置 [P].

杨涛 ;

宋春元 ;

许超 ;

黄维 ;

李兴鳌 ;

何浩培 ;

仪明东 ;

周馨慧 ;

李咏华 .

中国专利 :CN204007868U ,2014-12-10

[9]

光谱测量装置 [P].

杨涛 ;

许超 ;

宋春元 ;

何浩培 ;

黄维 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

沈骁 ;

仪明东 ;

李咏华 .

中国专利 :CN203772415U ,2014-08-13

[10]

一种光谱测量系统及光谱式厚度测量系统 [P].

陈雅馨 ;

李仲禹 ;

董诗浩 .

中国专利 :CN116429257B ,2025-06-27

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