一种衍射光谱测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610102110.4

申请日：

2006-10-27

公开(公告)号：

CN1945241A

公开(公告)日：

2007-04-11

发明(设计)人：

李捷

申请人：

申请人地址：

030024山西省太原市迎泽西大街79号

IPC主分类号：

G01J318

IPC分类号：

G01J328

代理机构：

太原市科瑞达专利代理有限公司

代理人：

庞建英

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-06-06	实质审查的生效	实质审查的生效
2007-04-11	公开	公开
2010-02-10	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

一种衍射光谱测量系统 [P].

李捷 .

中国专利 :CN201016805Y ,2008-02-06

[2]

光栅平面镜衍射光谱测量系统及应用 [P].

贺晓宏 ;

汤洪明 ;

李君良 ;

魏循 ;

王纪龙 ;

王云才 .

中国专利 :CN1431476A ,2003-07-23

[3]

新型光栅衍射效率光谱测量装置 [P].

王圣浩 ;

吴福林 ;

刘世杰 .

中国专利 :CN216955083U ,2022-07-12

[4]

一种光谱测量系统及光谱式厚度测量系统 [P].

陈雅馨 ;

李仲禹 ;

董诗浩 .

中国专利 :CN116429257B ,2025-06-27

[5]

光谱测量系统 [P].

周安萌 .

中国专利 :CN214372918U ,2021-10-08

[6]

光谱测量系统 [P].

徐宁汉 ;

肖晓飞 ;

白本锋 ;

谭峭峰 ;

金国藩 .

中国专利 :CN103499391B ,2014-01-08

[7]

光谱测量系统 [P].

J·蒋 ;

M·斯科特 ;

E·若弗里翁 ;

A·凯布尔 .

中国专利 :CN107003232B ,2017-08-01

[8]

光谱测量系统 [P].

张文君 ;

翟保才 ;

董洪波 ;

许键 .

中国专利 :CN103424188A ,2013-12-04

[9]

一种光谱测量装置和测量系统 [P].

尹金德 ;

段辉雄 ;

闫培光 ;

张敏 ;

陈浩 ;

郭凯 .

中国专利 :CN212722598U ,2021-03-16

[10]

光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

← 1 2 3 4 5 →