一种用于半导体测试机的转接装置

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申请号
CN202221973560.1
申请日
2022-07-28
公开(公告)号
CN218036902U
公开(公告)日
2022-12-13
发明(设计)人
李维繁星
申请人
申请人地址
215104 江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道吴中大道1421号太湖软件产业园智慧谷园区10号楼101室
IPC主分类号
G01R102
IPC分类号
G01R104
代理机构
上海秋冬专利代理事务所(普通合伙) 31414
代理人
张月
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种用于半导体测试机的转接装置 [P]. 
张磊 ;
曹振军 .
中国专利 :CN210665818U ,2020-06-02
[2]
一种用于半导体测试机的转接装置 [P]. 
陆鹏 ;
王硕秋 ;
卞杰锋 .
中国专利 :CN215493725U ,2022-01-11
[3]
一种用于半导体测试机的转接装置 [P]. 
刘静 ;
陈伟 .
中国专利 :CN214150937U ,2021-09-07
[4]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
程尧 ;
张伟 .
中国专利 :CN207473074U ,2018-06-08
[5]
半导体测试机 [P]. 
林俊义 ;
黄俊耀 ;
林建弘 ;
陈柏玮 .
中国专利 :CN223051450U ,2025-07-01
[6]
一种半导体测试机 [P]. 
董福国 ;
毕云剑 ;
董福军 .
中国专利 :CN216351044U ,2022-04-19
[7]
一种用于半导体测试机的包装结构 [P]. 
张益文 ;
顾培东 .
中国专利 :CN222117377U ,2024-12-06
[8]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王武林 .
中国专利 :CN209460389U ,2019-10-01
[9]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
刘静 ;
陈伟 .
中国专利 :CN213903772U ,2021-08-06
[10]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
程尧 ;
张伟 .
中国专利 :CN107561471A ,2018-01-09