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一种用于半导体测试机的转接装置
被引:0
申请号
:
CN202221973560.1
申请日
:
2022-07-28
公开(公告)号
:
CN218036902U
公开(公告)日
:
2022-12-13
发明(设计)人
:
李维繁星
申请人
:
申请人地址
:
215104 江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道吴中大道1421号太湖软件产业园智慧谷园区10号楼101室
IPC主分类号
:
G01R102
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
上海秋冬专利代理事务所(普通合伙) 31414
代理人
:
张月
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-13
授权
授权
共 50 条
[1]
一种用于半导体测试机的转接装置
[P].
张磊
论文数:
0
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0
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张磊
;
曹振军
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曹振军
.
中国专利
:CN210665818U
,2020-06-02
[2]
一种用于半导体测试机的转接装置
[P].
陆鹏
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陆鹏
;
王硕秋
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王硕秋
;
卞杰锋
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卞杰锋
.
中国专利
:CN215493725U
,2022-01-11
[3]
一种用于半导体测试机的转接装置
[P].
刘静
论文数:
0
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刘静
;
陈伟
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陈伟
.
中国专利
:CN214150937U
,2021-09-07
[4]
半导体测试机校准装置
[P].
王浩
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王浩
;
王刚
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王刚
;
程尧
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程尧
;
张伟
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张伟
.
中国专利
:CN207473074U
,2018-06-08
[5]
半导体测试机
[P].
林俊义
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机构:
矽格股份有限公司
矽格股份有限公司
林俊义
;
黄俊耀
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机构:
矽格股份有限公司
矽格股份有限公司
黄俊耀
;
林建弘
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机构:
矽格股份有限公司
矽格股份有限公司
林建弘
;
陈柏玮
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机构:
矽格股份有限公司
矽格股份有限公司
陈柏玮
.
中国专利
:CN223051450U
,2025-07-01
[6]
一种半导体测试机
[P].
董福国
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董福国
;
毕云剑
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毕云剑
;
董福军
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董福军
.
中国专利
:CN216351044U
,2022-04-19
[7]
一种用于半导体测试机的包装结构
[P].
张益文
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机构:
上海捷策创电子科技有限公司
上海捷策创电子科技有限公司
张益文
;
顾培东
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机构:
上海捷策创电子科技有限公司
上海捷策创电子科技有限公司
顾培东
.
中国专利
:CN222117377U
,2024-12-06
[8]
半导体测试机校准装置
[P].
王武林
论文数:
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王武林
.
中国专利
:CN209460389U
,2019-10-01
[9]
一种半导体测试机校准装置
[P].
刘静
论文数:
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刘静
;
陈伟
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陈伟
.
中国专利
:CN213903772U
,2021-08-06
[10]
一种半导体测试机校准装置
[P].
王浩
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王浩
;
王刚
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王刚
;
程尧
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程尧
;
张伟
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张伟
.
中国专利
:CN107561471A
,2018-01-09
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