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一种半导体测试机

被引：0
申请号：
CN202122653737.1
申请日：
2021-11-02
公开(公告)号：
CN216351044U
公开(公告)日：
2022-04-19
发明(设计)人：
董福国 毕云剑 董福军
申请人：
申请人地址：
276800 山东省日照市高新区新一代信息技术产业园9号楼西
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
深圳市创富知识产权代理有限公司 44367
代理人：
安利营
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-19 授权 授权
共 50 条
[1]
半导体测试机 [P]. 
林俊义 ;
黄俊耀 ;
林建弘 ;
陈柏玮 .
中国专利 :CN223051450U ,2025-07-01
[2]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
刘静 ;
陈伟 .
中国专利 :CN213903772U ,2021-08-06
[3]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
李维繁星 .
中国专利 :CN218298502U ,2023-01-13
[4]
一种半导体测试机装置 [P]. 
卞杰锋 .
中国专利 :CN212845754U ,2021-03-30
[5]
半导体测试机 [P]. 
郭军 ;
吴海涛 ;
鲁志兵 .
中国专利 :CN308598513S ,2024-04-23
[6]
半导体测试机 [P]. 
樊宏斌 ;
贾六伟 ;
严铠锋 .
中国专利 :CN309153541S ,2025-03-07
[7]
半导体测试机 [P]. 
张九六 ;
胡建仁 .
中国专利 :CN307768033S ,2023-01-03
[8]
半导体测试机 [P]. 
张津玮 .
中国专利 :CN308643725S ,2024-05-17
[9]
一种半导体测试机 [P]. 
叶宏成 ;
陈通芳 .
中国专利 :CN117572220B ,2024-04-30
[10]
一种半导体测试机 [P]. 
叶宏成 ;
陈通芳 .
中国专利 :CN117572220A ,2024-02-20
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