半导体测试机

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN202430485729.7

申请日：

2024-08-01

公开(公告)号：

CN309153541S

公开(公告)日：

2025-03-07

发明(设计)人：

樊宏斌贾六伟严铠锋

申请人：

上海艾为电子技术股份有限公司

申请人地址：

201199 上海市闵行区秀文路908弄2号1201室

IPC主分类号：

10-05

IPC分类号：

代理机构：

北京合智同创知识产权代理有限公司 11545

代理人：

李杰

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-07	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体测试机 [P].

郭军 ;

吴海涛 ;

鲁志兵 .

中国专利 :CN308598513S ,2024-04-23

[2]

半导体测试机 [P].

张九六 ;

胡建仁 .

中国专利 :CN307768033S ,2023-01-03

[3]

半导体测试机 [P].

张津玮 .

中国专利 :CN308643725S ,2024-05-17

[4]

半导体测试机（小型） [P].

张军强 ;

胡国庆 .

中国专利 :CN307099972S ,2022-02-08

[5]

半导体测试机 [P].

林俊义 ;

黄俊耀 ;

林建弘 ;

陈柏玮 .

中国专利 :CN223051450U ,2025-07-01

[6]

半导体测试机 [P].

刘子昂 ;

刘伟 ;

陈辉 ;

施贻蒙 ;

李军 .

中国专利 :CN309079639S ,2025-01-21

[7]

半导体电性测试机 [P].

成家柏 ;

郭丹 .

中国专利 :CN305503315S ,2019-12-20

[8]

功率半导体动态测试机 [P].

李亚君 ;

廖光朝 .

中国专利 :CN309701576S ,2025-12-26

[9]

半导体测试机箱 [P].

张磊 ;

黄龙 .

中国专利 :CN307510152S ,2022-08-23

[10]

半导体测试机的在线测试方法、半导体测试机及测试系统 [P].

黄超 ;

安亚宁 ;

郑江浩 ;

李成霞 ;

李赛飞 ;

林敏 .

中国专利 :CN120686175A ,2025-09-23

← 1 2 3 4 5 →