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一种半导体测试机
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410060016.5
申请日
:
2024-01-16
公开(公告)号
:
CN117572220B
公开(公告)日
:
2024-04-30
发明(设计)人
:
叶宏成
陈通芳
申请人
:
深圳市圆朗智能科技有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区东方建富怡景工业城B4栋102
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳宏创有为知识产权代理事务所(普通合伙) 44837
代理人
:
邓冠山
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-03-08
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240116
2024-04-30
授权
授权
2024-02-20
公开
公开
共 50 条
[1]
一种半导体测试机
[P].
叶宏成
论文数:
0
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0
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机构:
深圳市圆朗智能科技有限公司
深圳市圆朗智能科技有限公司
叶宏成
;
陈通芳
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机构:
深圳市圆朗智能科技有限公司
深圳市圆朗智能科技有限公司
陈通芳
.
中国专利
:CN117572220A
,2024-02-20
[2]
半导体测试机
[P].
林俊义
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0
机构:
矽格股份有限公司
矽格股份有限公司
林俊义
;
黄俊耀
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机构:
矽格股份有限公司
矽格股份有限公司
黄俊耀
;
林建弘
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0
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0
机构:
矽格股份有限公司
矽格股份有限公司
林建弘
;
陈柏玮
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机构:
矽格股份有限公司
矽格股份有限公司
陈柏玮
.
中国专利
:CN223051450U
,2025-07-01
[3]
半导体测试机
[P].
郭军
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
郭军
;
吴海涛
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
吴海涛
;
鲁志兵
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
鲁志兵
.
中国专利
:CN308598513S
,2024-04-23
[4]
半导体测试机
[P].
樊宏斌
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
樊宏斌
;
贾六伟
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
贾六伟
;
严铠锋
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
严铠锋
.
中国专利
:CN309153541S
,2025-03-07
[5]
半导体测试机
[P].
张九六
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张九六
;
胡建仁
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胡建仁
.
中国专利
:CN307768033S
,2023-01-03
[6]
半导体测试机
[P].
张津玮
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机构:
上海铭剑电子科技有限公司
上海铭剑电子科技有限公司
张津玮
.
中国专利
:CN308643725S
,2024-05-17
[7]
一种半导体测试机
[P].
董福国
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董福国
;
毕云剑
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毕云剑
;
董福军
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董福军
.
中国专利
:CN216351044U
,2022-04-19
[8]
一种半导体测试机校准装置
[P].
沈红星
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机构:
弘润半导体(苏州)有限公司
弘润半导体(苏州)有限公司
沈红星
;
李北印
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机构:
弘润半导体(苏州)有限公司
弘润半导体(苏州)有限公司
李北印
;
陈泳宇
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机构:
弘润半导体(苏州)有限公司
弘润半导体(苏州)有限公司
陈泳宇
.
中国专利
:CN220894513U
,2024-05-03
[9]
半导体测试机(小型)
[P].
张军强
论文数:
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张军强
;
胡国庆
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胡国庆
.
中国专利
:CN307099972S
,2022-02-08
[10]
半导体测试机的在线测试方法、半导体测试机及测试系统
[P].
黄超
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机构:
杭州广立测试设备有限公司
杭州广立测试设备有限公司
黄超
;
安亚宁
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机构:
杭州广立测试设备有限公司
杭州广立测试设备有限公司
安亚宁
;
郑江浩
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机构:
杭州广立测试设备有限公司
杭州广立测试设备有限公司
郑江浩
;
李成霞
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机构:
杭州广立测试设备有限公司
杭州广立测试设备有限公司
李成霞
;
李赛飞
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机构:
杭州广立测试设备有限公司
杭州广立测试设备有限公司
李赛飞
;
林敏
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机构:
杭州广立测试设备有限公司
杭州广立测试设备有限公司
林敏
.
中国专利
:CN120686175A
,2025-09-23
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