一种半导体测试机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410060016.5
申请日
2024-01-16
公开(公告)号
CN117572220B
公开(公告)日
2024-04-30
发明(设计)人
叶宏成 陈通芳
申请人
深圳市圆朗智能科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区东方建富怡景工业城B4栋102
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
深圳宏创有为知识产权代理事务所(普通合伙) 44837
代理人
邓冠山
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种半导体测试机 [P]. 
叶宏成 ;
陈通芳 .
中国专利 :CN117572220A ,2024-02-20
[2]
半导体测试机 [P]. 
林俊义 ;
黄俊耀 ;
林建弘 ;
陈柏玮 .
中国专利 :CN223051450U ,2025-07-01
[3]
半导体测试机 [P]. 
郭军 ;
吴海涛 ;
鲁志兵 .
中国专利 :CN308598513S ,2024-04-23
[4]
半导体测试机 [P]. 
樊宏斌 ;
贾六伟 ;
严铠锋 .
中国专利 :CN309153541S ,2025-03-07
[5]
半导体测试机 [P]. 
张九六 ;
胡建仁 .
中国专利 :CN307768033S ,2023-01-03
[6]
半导体测试机 [P]. 
张津玮 .
中国专利 :CN308643725S ,2024-05-17
[7]
一种半导体测试机 [P]. 
董福国 ;
毕云剑 ;
董福军 .
中国专利 :CN216351044U ,2022-04-19
[8]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
沈红星 ;
李北印 ;
陈泳宇 .
中国专利 :CN220894513U ,2024-05-03
[9]
半导体测试机(小型) [P]. 
张军强 ;
胡国庆 .
中国专利 :CN307099972S ,2022-02-08
[10]
半导体测试机的在线测试方法、半导体测试机及测试系统 [P]. 
黄超 ;
安亚宁 ;
郑江浩 ;
李成霞 ;
李赛飞 ;
林敏 .
中国专利 :CN120686175A ,2025-09-23