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一种半导体测试机装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202021019911.6
申请日：
2020-06-05
公开(公告)号：
CN212845754U
公开(公告)日：
2021-03-30
发明(设计)人：
卞杰锋
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市工业园区星海街5号星海5号创意园118室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-03-30 | 授权 | 授权 |