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一种半导体测试机
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020150574.8
申请日：
2020-02-03
公开(公告)号：
CN211652566U
公开(公告)日：
2020-10-09
发明(设计)人：
徐明
王元
高金炉
蔡家豪
周立
张家豪
申请人：
申请人地址：
241000 安徽省芜湖市经济技术开发区东梁路8号
IPC主分类号：
G01N2184
IPC分类号：
G01N2101
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-10-09 | 授权 | 授权 |