一种半导体测试机校准装置

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申请号
CN202221992188.9
申请日
2022-07-28
公开(公告)号
CN218298502U
公开(公告)日
2023-01-13
发明(设计)人
李维繁星
申请人
申请人地址
215104 江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道吴中大道1421号太湖软件产业园智慧谷园区10号楼101室
IPC主分类号
G01R3500
IPC分类号
代理机构
上海秋冬专利代理事务所(普通合伙) 31414
代理人
张月
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
沈红星 ;
李北印 ;
陈泳宇 .
中国专利 :CN220894513U ,2024-05-03
[2]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王武林 .
中国专利 :CN209460389U ,2019-10-01
[3]
半导体测试机校准装置 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
程尧 ;
张伟 .
中国专利 :CN207473074U ,2018-06-08
[4]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
刘静 ;
陈伟 .
中国专利 :CN213903772U ,2021-08-06
[5]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
张绪龙 ;
王智超 ;
李翔宇 .
中国专利 :CN223727977U ,2025-12-26
[6]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
杨斌 ;
黄峰荣 ;
何亮 ;
曾绍娟 .
中国专利 :CN217820804U ,2022-11-15
[7]
一种半导体测试机校准装置 [P]. 
王浩 ;
王刚 ;
程尧 ;
张伟 .
中国专利 :CN107561471A ,2018-01-09
[8]
半导体测试机的校准结构 [P]. 
熊烱声 ;
李圣 .
中国专利 :CN220626640U ,2024-03-19
[9]
一种半导体测试机 [P]. 
董福国 ;
毕云剑 ;
董福军 .
中国专利 :CN216351044U ,2022-04-19
[10]
一种具有校准结构的半导体测试机 [P]. 
王飞 ;
王锟 ;
鲁启永 .
中国专利 :CN216209639U ,2022-04-05