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一种芯片测试固定装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202122341308.0
申请日
:
2021-09-26
公开(公告)号
:
CN215866826U
公开(公告)日
:
2022-02-18
发明(设计)人
:
易伯玉
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市宝安区新安街道海富社区自由路3号深宝花园7B401
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
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:
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法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-18
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试固定装置
[P].
刘凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘凯
;
施元军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施元军
;
高凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高凯
;
殷岚勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷岚勇
.
中国专利
:CN204302319U
,2015-04-29
[2]
一种芯片测试用固定装置
[P].
常嘉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
常嘉伟
;
王霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王霞
;
王志伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王志伟
.
中国专利
:CN212409744U
,2021-01-26
[3]
一种LQFP封装芯片测试固定装置
[P].
王战朋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王战朋
;
刘振
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘振
.
中国专利
:CN210323133U
,2020-04-14
[4]
一种用于芯片测试机上精确固定装置
[P].
卞杰锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卞杰锋
.
中国专利
:CN212845748U
,2021-03-30
[5]
一种半导体芯片模块测试的固定装置
[P].
袁磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥中恒微半导体有限公司
合肥中恒微半导体有限公司
袁磊
;
王凯锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥中恒微半导体有限公司
合肥中恒微半导体有限公司
王凯锋
;
户宝利
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥中恒微半导体有限公司
合肥中恒微半导体有限公司
户宝利
.
中国专利
:CN223419328U
,2025-10-10
[6]
一种固定装置及芯片测试探针卡
[P].
杜开元
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜开元
;
潘志华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘志华
;
卢旭坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢旭坤
;
袁俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
袁俊
;
郑朝生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑朝生
;
辜诗涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
辜诗涛
;
张亦锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张亦锋
.
中国专利
:CN212430257U
,2021-01-29
[7]
一种MOS双极芯片测试用固定装置
[P].
潘锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘锋
.
中国专利
:CN215005525U
,2021-12-03
[8]
用于芯片测试的固定装置
[P].
杨坤宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨坤宏
;
陈绍锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈绍锋
;
何颖东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何颖东
.
中国专利
:CN211292977U
,2020-08-18
[9]
一种便于测试的芯片固定装置
[P].
朱贤光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱贤光
;
钟星熠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
钟星熠
;
李增珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李增珍
.
中国专利
:CN217385561U
,2022-09-06
[10]
一种PLC芯片测试用固定装置
[P].
马卫东
论文数:
0
引用数:
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h-index:
0
马卫东
.
中国专利
:CN213633531U
,2021-07-06
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