一种芯片测试固定装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202122341308.0
申请日
2021-09-26
公开(公告)号
CN215866826U
公开(公告)日
2022-02-18
发明(设计)人
易伯玉
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区新安街道海富社区自由路3号深宝花园7B401
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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共 50 条
[1]
芯片测试固定装置 [P]. 
刘凯 ;
施元军 ;
高凯 ;
殷岚勇 .
中国专利 :CN204302319U ,2015-04-29
[2]
一种芯片测试用固定装置 [P]. 
常嘉伟 ;
王霞 ;
王志伟 .
中国专利 :CN212409744U ,2021-01-26
[3]
一种LQFP封装芯片测试固定装置 [P]. 
王战朋 ;
刘振 .
中国专利 :CN210323133U ,2020-04-14
[4]
一种用于芯片测试机上精确固定装置 [P]. 
卞杰锋 .
中国专利 :CN212845748U ,2021-03-30
[5]
一种半导体芯片模块测试的固定装置 [P]. 
袁磊 ;
王凯锋 ;
户宝利 .
中国专利 :CN223419328U ,2025-10-10
[6]
一种固定装置及芯片测试探针卡 [P]. 
杜开元 ;
潘志华 ;
卢旭坤 ;
袁俊 ;
郑朝生 ;
辜诗涛 ;
张亦锋 .
中国专利 :CN212430257U ,2021-01-29
[7]
一种MOS双极芯片测试用固定装置 [P]. 
潘锋 .
中国专利 :CN215005525U ,2021-12-03
[8]
用于芯片测试的固定装置 [P]. 
杨坤宏 ;
陈绍锋 ;
何颖东 .
中国专利 :CN211292977U ,2020-08-18
[9]
一种便于测试的芯片固定装置 [P]. 
朱贤光 ;
钟星熠 ;
李增珍 .
中国专利 :CN217385561U ,2022-09-06
[10]
一种PLC芯片测试用固定装置 [P]. 
马卫东 .
中国专利 :CN213633531U ,2021-07-06