一种MOS双极芯片测试用固定装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121173434.3
申请日
2021-05-28
公开(公告)号
CN215005525U
公开(公告)日
2021-12-03
发明(设计)人
潘锋
申请人
申请人地址
475000 河南省开封市尉氏县福星大道68号
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
郑州博鳌纵横知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41165
代理人
屈慧丽
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试用固定装置 [P]. 
常嘉伟 ;
王霞 ;
王志伟 .
中国专利 :CN212409744U ,2021-01-26
[2]
一种MOS管测试用固定装置 [P]. 
邓天林 ;
吕万春 ;
郑慧 ;
杨红伟 .
中国专利 :CN222167070U ,2024-12-13
[3]
一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备 [P]. 
黄金荣 .
中国专利 :CN115561611A ,2023-01-03
[4]
一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备 [P]. 
黄金荣 .
中国专利 :CN115561611B ,2025-08-29
[5]
一种PLC芯片测试用固定装置 [P]. 
马卫东 .
中国专利 :CN213633531U ,2021-07-06
[6]
一种数码产品芯片测试用的固定装置 [P]. 
汤胜华 ;
吴东明 ;
秦海军 ;
王婷 .
中国专利 :CN208270623U ,2018-12-21
[7]
芯片测试固定装置 [P]. 
刘凯 ;
施元军 ;
高凯 ;
殷岚勇 .
中国专利 :CN204302319U ,2015-04-29
[8]
一种LED灯泡测试用灯泡固定装置 [P]. 
江新华 ;
姜松 .
中国专利 :CN221926410U ,2024-10-29
[9]
一种芯片测试固定装置 [P]. 
易伯玉 .
中国专利 :CN215866826U ,2022-02-18
[10]
一种芯片测试用夹紧固定装置 [P]. 
李英才 ;
邵训练 ;
田超 .
中国专利 :CN119260638A ,2025-01-07