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一种MOS双极芯片测试用固定装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121173434.3
申请日
:
2021-05-28
公开(公告)号
:
CN215005525U
公开(公告)日
:
2021-12-03
发明(设计)人
:
潘锋
申请人
:
申请人地址
:
475000 河南省开封市尉氏县福星大道68号
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R3128
代理机构
:
郑州博鳌纵横知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41165
代理人
:
屈慧丽
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-03
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试用固定装置
[P].
常嘉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
常嘉伟
;
王霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王霞
;
王志伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王志伟
.
中国专利
:CN212409744U
,2021-01-26
[2]
一种MOS管测试用固定装置
[P].
邓天林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
四川民承电子有限公司
四川民承电子有限公司
邓天林
;
吕万春
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
四川民承电子有限公司
四川民承电子有限公司
吕万春
;
郑慧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
四川民承电子有限公司
四川民承电子有限公司
郑慧
;
杨红伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
四川民承电子有限公司
四川民承电子有限公司
杨红伟
.
中国专利
:CN222167070U
,2024-12-13
[3]
一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备
[P].
黄金荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄金荣
.
中国专利
:CN115561611A
,2023-01-03
[4]
一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备
[P].
黄金荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
黄金荣
.
中国专利
:CN115561611B
,2025-08-29
[5]
一种PLC芯片测试用固定装置
[P].
马卫东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马卫东
.
中国专利
:CN213633531U
,2021-07-06
[6]
一种数码产品芯片测试用的固定装置
[P].
汤胜华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汤胜华
;
吴东明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴东明
;
秦海军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
秦海军
;
王婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王婷
.
中国专利
:CN208270623U
,2018-12-21
[7]
芯片测试固定装置
[P].
刘凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘凯
;
施元军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施元军
;
高凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高凯
;
殷岚勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷岚勇
.
中国专利
:CN204302319U
,2015-04-29
[8]
一种LED灯泡测试用灯泡固定装置
[P].
江新华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江西汇荣实业有限公司
江西汇荣实业有限公司
江新华
;
姜松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江西汇荣实业有限公司
江西汇荣实业有限公司
姜松
.
中国专利
:CN221926410U
,2024-10-29
[9]
一种芯片测试固定装置
[P].
易伯玉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
易伯玉
.
中国专利
:CN215866826U
,2022-02-18
[10]
一种芯片测试用夹紧固定装置
[P].
李英才
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥市华宇半导体有限公司
合肥市华宇半导体有限公司
李英才
;
邵训练
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥市华宇半导体有限公司
合肥市华宇半导体有限公司
邵训练
;
田超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥市华宇半导体有限公司
合肥市华宇半导体有限公司
田超
.
中国专利
:CN119260638A
,2025-01-07
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