具有可焊接环接触件的半导体装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200780009906.8
申请日
2007-03-27
公开(公告)号
CN101405861A
公开(公告)日
2009-04-08
发明(设计)人
李相道 玛吉·T·里奥斯
申请人
申请人地址
美国缅因州
IPC主分类号
H01L2348
IPC分类号
H01L2352 H01L2940
代理机构
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人
孟 锐
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
具有可检查的焊接点的半导体装置 [P]. 
白志刚 ;
庞兴收 ;
许南 ;
姚晋钟 .
中国专利 :CN105405823A ,2016-03-16
[2]
具有模环导体的半导体装置 [P]. 
宫地徹平 .
美国专利 :CN118248671A ,2024-06-25
[3]
具有接触塞的半导体装置 [P]. 
尹彰燮 ;
金盛民 ;
赵治元 .
中国专利 :CN109841587A ,2019-06-04
[4]
具有密封环的半导体装置 [P]. 
胡思平 .
中国专利 :CN113892170A ,2022-01-04
[5]
具有附加的底面接触件的表面安装半导体装置 [P]. 
白志刚 ;
区彦敬 ;
陈兰珠 ;
姚晋钟 .
中国专利 :CN104576590A ,2015-04-29
[6]
具有半导体装置的半导体电路 [P]. 
C·拉纳赫尔 ;
O·布兰克 ;
A·费拉拉 ;
M·罗施 .
:CN120432466A ,2025-08-05
[7]
半导体密封环和半导体装置 [P]. 
郭伟 ;
吴静銮 ;
卢盈 ;
胡媛 .
中国专利 :CN206758421U ,2017-12-15
[8]
具有散热件的半导体装置 [P]. 
洪家惠 ;
许正昇 ;
彭立晖 .
中国专利 :CN222380580U ,2025-01-21
[9]
具有屏蔽件的半导体装置 [P]. 
松田吉雄 ;
西川健二 ;
佐藤诚一郎 ;
池本吉彦 .
中国专利 :CN112117261A ,2020-12-22
[10]
具有接触检查电路的半导体装置 [P]. 
谷田进 .
中国专利 :CN1205522A ,1999-01-20