一种X射线荧光光谱法样品采集测试盒

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921916998.4

申请日：

2019-11-08

公开(公告)号：

CN210923526U

公开(公告)日：

2020-07-03

发明(设计)人：

马枭姜红任界芝

申请人：

申请人地址：

100038 北京市西城区木樨地南里1号

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

G01N102

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

汤东凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-03	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线荧光光谱法用制样装置 [P].

刘文华 .

中国专利 :CN207232049U ,2018-04-13

[2]

应用X射线荧光光谱法检测金属硅杂质含量的方法 [P].

谷松海 ;

宋义 ;

魏红兵 ;

陈焱 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 .

中国专利 :CN101706461A ,2010-05-12

[3]

X射线荧光光谱法用制样模具 [P].

孟建卫 ;

胡艳巧 ;

赵烨 ;

杨一 ;

刘博雅 ;

魏军 ;

魏利 ;

刘爱琴 ;

陈庆芝 ;

高璐 ;

陈超 .

中国专利 :CN217766165U ,2022-11-08

[4]

应用X射线荧光光谱法检测碳化硅杂质含量的方法 [P].

魏红兵 ;

谷松海 ;

宋义 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 ;

陈焱 .

中国专利 :CN101718720A ,2010-06-02

[5]

一种x射线荧光光谱法定量检测铈元素的方法 [P].

黄显铭 .

中国专利 :CN112461877A ,2021-03-09

[6]

X射线荧光光谱法用高压制样技术 [P].

张勤 ;

于兆水 ;

薄玮 ;

白金峰 ;

李文阁 ;

李国会 .

中国专利 :CN104101523A ,2014-10-15

[7]

X射线荧光光谱法用高压制样模具 [P].

张勤 ;

于兆水 ;

李国会 ;

白金峰 ;

樊海潮 .

中国专利 :CN201867332U ,2011-06-15

[8]

X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107389716A ,2017-11-24

[9]

X射线荧光光谱法测定铜冶炼炉渣多元素标准样品的研制 [P].

彭建军 ;

张敬涛 ;

郭萌 ;

刘名红 .

中国专利 :CN108037148A ,2018-05-15

[10]

通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107367521A ,2017-11-21

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