应用X射线荧光光谱法检测碳化硅杂质含量的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910228151.1

申请日：

2009-11-10

公开(公告)号：

CN101718720A

公开(公告)日：

2010-06-02

发明(设计)人：

魏红兵谷松海宋义郭芬潘宏伟魏伟陈焱

申请人：

申请人地址：

300456 天津市塘沽区新港路77号

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

天津中环专利商标代理有限公司 12105

代理人：

王凤英

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-07-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101003924686 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2009102281511 申请日:20091110
2010-06-02	公开	公开
2011-06-08	授权	授权

共 50 条

[1]

应用X射线荧光光谱法检测金属硅杂质含量的方法 [P].

谷松海 ;

宋义 ;

魏红兵 ;

陈焱 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 .

中国专利 :CN101706461A ,2010-05-12

[2]

X射线荧光光谱法分析有机硅触体中17种元素的含量 [P].

吴云华 .

中国专利 :CN102539463A ,2012-07-04

[3]

X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107389716A ,2017-11-24

[4]

通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107367521A ,2017-11-21

[5]

一种x射线荧光光谱法定量检测铈元素的方法 [P].

黄显铭 .

中国专利 :CN112461877A ,2021-03-09

[6]

X射线荧光光谱法测定铁矿石中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107179330A ,2017-09-19

[7]

X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法 [P].

宋祖峰 ;

阚斌 ;

陆尹 ;

徐洁 .

中国专利 :CN103743769A ,2014-04-23

[8]

X射线荧光光谱法测定钢渣中镧、铈和钡含量的方法 [P].

王彬果 ;

赵靖 ;

张改梅 ;

商英 ;

鲍希波 .

中国专利 :CN108508050A ,2018-09-07

[9]

X射线荧光光谱法测定白刚玉中杂质组分含量的方法 [P].

张蕾 ;

陈宁娜 ;

许超 .

中国专利 :CN113447330A ,2021-09-28

[10]

高压消解‑x射线荧光光谱法测量玻璃粉中元素含量的分析方法 [P].

宗丹 ;

朱鹏 ;

陈妍 .

中国专利 :CN106990129A ,2017-07-28

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