X射线荧光光谱法分析有机硅触体中17种元素的含量

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110454581.2

申请日：

2011-12-30

公开(公告)号：

CN102539463A

公开(公告)日：

2012-07-04

发明(设计)人：

吴云华

申请人：

申请人地址：

330319 江西省九江市永修县星火工业园

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

南昌新天下专利商标代理有限公司 36115

代理人：

施秀瑾

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-07-04	公开	公开
2015-08-19	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101719397137 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2011104545812 申请公布日:20120704

共 50 条

[1]

应用X射线荧光光谱法检测金属硅杂质含量的方法 [P].

谷松海 ;

宋义 ;

魏红兵 ;

陈焱 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 .

中国专利 :CN101706461A ,2010-05-12

[2]

应用X射线荧光光谱法检测碳化硅杂质含量的方法 [P].

魏红兵 ;

谷松海 ;

宋义 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 ;

陈焱 .

中国专利 :CN101718720A ,2010-06-02

[3]

X射线荧光光谱法测定钛白粉中元素含量的方法 [P].

王晓格 ;

张广宇 ;

金琦春 ;

郑姝倩 ;

安靖 ;

蒋辉 .

中国专利 :CN118443705A ,2024-08-06

[4]

X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法 [P].

宋祖峰 ;

阚斌 ;

陆尹 ;

徐洁 .

中国专利 :CN103743769A ,2014-04-23

[5]

高压消解‑x射线荧光光谱法测量玻璃粉中元素含量的分析方法 [P].

宗丹 ;

朱鹏 ;

陈妍 .

中国专利 :CN106990129A ,2017-07-28

[6]

熔体熔炼取样-X射线荧光光谱法分析钒铁合金成分的方法 [P].

杨新能 ;

冯宗平 ;

羊绍松 .

中国专利 :CN102253068B ,2011-11-23

[7]

一种X射线荧光光谱法测定氟化铝中元素的方法 [P].

张爱芬 ;

张树朝 ;

马慧侠 .

中国专利 :CN101059456A ,2007-10-24

[8]

X射线荧光光谱法测定钢渣中镧、铈和钡含量的方法 [P].

王彬果 ;

赵靖 ;

张改梅 ;

商英 ;

鲍希波 .

中国专利 :CN108508050A ,2018-09-07

[9]

一种x射线荧光光谱法定量检测铈元素的方法 [P].

黄显铭 .

中国专利 :CN112461877A ,2021-03-09

[10]

测定钢中氧化物夹杂分量的电解提取-X射线荧光光谱法 [P].

刘升迁 .

中国专利 :CN104614390A ,2015-05-13

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