熔体熔炼取样-X射线荧光光谱法分析钒铁合金成分的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110194135.2

申请日：

2011-07-12

公开(公告)号：

CN102253068B

公开(公告)日：

2011-11-23

发明(设计)人：

杨新能冯宗平羊绍松

申请人：

申请人地址：

617067 四川省攀枝花市东区向阳村技质部

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124

代理人：

罗丽;武森涛

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-11-23	公开	公开
2019-07-05	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20110712 授权公告日:20130925 终止日期:20180712
2012-01-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101165558397 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2011101941352 申请日:20110712
2013-09-25	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线荧光光谱法分析有机硅触体中17种元素的含量 [P].

吴云华 .

中国专利 :CN102539463A ,2012-07-04

[2]

应用X射线荧光光谱法检测碳化硅杂质含量的方法 [P].

魏红兵 ;

谷松海 ;

宋义 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 ;

陈焱 .

中国专利 :CN101718720A ,2010-06-02

[3]

一种X射线荧光光谱法测定高炉渣成分的方法 [P].

常利民 ;

郭李明 ;

孙紫燕 ;

刘艳辉 ;

王雪红 ;

王晓霞 ;

祁巍 ;

杨红磊 ;

周立达 .

中国专利 :CN119000758A ,2024-11-22

[4]

应用X射线荧光光谱法检测金属硅杂质含量的方法 [P].

谷松海 ;

宋义 ;

魏红兵 ;

陈焱 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 .

中国专利 :CN101706461A ,2010-05-12

[5]

一种X射线荧光光谱法样品采集测试盒 [P].

马枭 ;

姜红 ;

任界芝 .

中国专利 :CN210923526U ,2020-07-03

[6]

X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107389716A ,2017-11-24

[7]

通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107367521A ,2017-11-21

[8]

一种x射线荧光光谱法定量检测铈元素的方法 [P].

黄显铭 .

中国专利 :CN112461877A ,2021-03-09

[9]

高压消解‑x射线荧光光谱法测量玻璃粉中元素含量的分析方法 [P].

宗丹 ;

朱鹏 ;

陈妍 .

中国专利 :CN106990129A ,2017-07-28

[10]

X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法 [P].

宋祖峰 ;

阚斌 ;

陆尹 ;

徐洁 .

中国专利 :CN103743769A ,2014-04-23

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