高压消解‑x射线荧光光谱法测量玻璃粉中元素含量的分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710343497.0

申请日：

2017-05-16

公开(公告)号：

CN106990129A

公开(公告)日：

2017-07-28

发明(设计)人：

宗丹朱鹏陈妍

申请人：

申请人地址：

226000 江苏省南通市啬园路9号

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

G01N138 G01N144

代理机构：

南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249

代理人：

徐激波

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-07-28	公开	公开
2019-07-16	授权	授权
2017-08-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101743215093 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2017103434970 申请日:20170516
2018-02-27	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01N 23/223 变更事项:发明人变更前:宗丹朱鹏陈妍变更后:朱鹏

共 50 条

[1]

X射线荧光光谱法测定钛白粉中元素含量的方法 [P].

王晓格 ;

张广宇 ;

金琦春 ;

郑姝倩 ;

安靖 ;

蒋辉 .

中国专利 :CN118443705A ,2024-08-06

[2]

应用X射线荧光光谱法检测金属硅杂质含量的方法 [P].

谷松海 ;

宋义 ;

魏红兵 ;

陈焱 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 .

中国专利 :CN101706461A ,2010-05-12

[3]

X射线荧光光谱法分析有机硅触体中17种元素的含量 [P].

吴云华 .

中国专利 :CN102539463A ,2012-07-04

[4]

应用X射线荧光光谱法检测碳化硅杂质含量的方法 [P].

魏红兵 ;

谷松海 ;

宋义 ;

郭芬 ;

潘宏伟 ;

魏伟 ;

陈焱 .

中国专利 :CN101718720A ,2010-06-02

[5]

一种X射线荧光光谱法测定氟化铝中元素的方法 [P].

张爱芬 ;

张树朝 ;

马慧侠 .

中国专利 :CN101059456A ,2007-10-24

[6]

X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法 [P].

宋祖峰 ;

阚斌 ;

陆尹 ;

徐洁 .

中国专利 :CN103743769A ,2014-04-23

[7]

一种x射线荧光光谱法定量检测铈元素的方法 [P].

黄显铭 .

中国专利 :CN112461877A ,2021-03-09

[8]

通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107367521A ,2017-11-21

[9]

熔体熔炼取样-X射线荧光光谱法分析钒铁合金成分的方法 [P].

杨新能 ;

冯宗平 ;

羊绍松 .

中国专利 :CN102253068B ,2011-11-23

[10]

单波长色散X射线荧光光谱法快速测定重油硫含量的方法 [P].

李媛媛 ;

李伟 ;

赵丽信 ;

李晓宏 ;

姬鹏军 ;

权亚文 ;

杨涛 ;

高伟 ;

石欣 ;

可小东 .

中国专利 :CN117571763A ,2024-02-20

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