学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
X射线荧光光谱法测定白刚玉中杂质组分含量的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110737326.2
申请日
:
2021-06-30
公开(公告)号
:
CN113447330A
公开(公告)日
:
2021-09-28
发明(设计)人
:
张蕾
陈宁娜
许超
申请人
:
申请人地址
:
430081 湖北省武汉市青山区工业大道3号
IPC主分类号
:
G01N128
IPC分类号
:
G01N23223
代理机构
:
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102
代理人
:
李艳景
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-10-22
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 1/28 申请日:20210630
2021-09-28
公开
公开
共 50 条
[1]
X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法
[P].
杜亚明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜亚明
.
中国专利
:CN107389716A
,2017-11-24
[2]
通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法
[P].
杜亚明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜亚明
.
中国专利
:CN107367521A
,2017-11-21
[3]
X射线荧光光谱法测定钛白粉中元素含量的方法
[P].
王晓格
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江方圆检测集团股份有限公司
浙江方圆检测集团股份有限公司
王晓格
;
张广宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江方圆检测集团股份有限公司
浙江方圆检测集团股份有限公司
张广宇
;
金琦春
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江方圆检测集团股份有限公司
浙江方圆检测集团股份有限公司
金琦春
;
郑姝倩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江方圆检测集团股份有限公司
浙江方圆检测集团股份有限公司
郑姝倩
;
安靖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江方圆检测集团股份有限公司
浙江方圆检测集团股份有限公司
安靖
;
蒋辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江方圆检测集团股份有限公司
浙江方圆检测集团股份有限公司
蒋辉
.
中国专利
:CN118443705A
,2024-08-06
[4]
X射线荧光光谱法测定铁矿石中杂质的方法
[P].
杜亚明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜亚明
.
中国专利
:CN107179330A
,2017-09-19
[5]
X-射线荧光光谱法测定Co(Ⅲ)和Co(Ⅱ)含量的方法
[P].
薛月霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
薛月霞
.
中国专利
:CN101692060A
,2010-04-07
[6]
X射线荧光光谱法测定钢渣中镧、铈和钡含量的方法
[P].
王彬果
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王彬果
;
赵靖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵靖
;
张改梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张改梅
;
商英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
商英
;
鲍希波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
鲍希波
.
中国专利
:CN108508050A
,2018-09-07
[7]
一种X射线荧光光谱法测定中包覆盖剂成分含量的方法
[P].
宋祖峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宋祖峰
;
陆尹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆尹
;
荚江霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
荚江霞
;
王昔文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王昔文
;
付万云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
付万云
;
刘文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘文
;
王忠乐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王忠乐
;
郭士光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭士光
.
中国专利
:CN107356618A
,2017-11-17
[8]
一种X射线荧光光谱法测定钛铁合金中各组分含量的方法
[P].
李文生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李文生
;
孙肖媛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙肖媛
;
王磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王磊
;
许涯平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许涯平
;
曾海梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾海梅
.
中国专利
:CN109557118A
,2019-04-02
[9]
X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法
[P].
宋祖峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宋祖峰
;
阚斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阚斌
;
陆尹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆尹
;
徐洁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐洁
.
中国专利
:CN103743769A
,2014-04-23
[10]
一种利用X射线荧光光谱法测定钼制品中镧含量的方法
[P].
王培
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王培
;
菅豫梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
菅豫梅
;
廖军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
廖军
;
薛林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
薛林
;
罗晓军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗晓军
.
中国专利
:CN109270101A
,2019-01-25
←
1
2
3
4
5
→