一种利用X射线荧光光谱法测定钼制品中镧含量的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811050377.2

申请日：

2018-09-10

公开(公告)号：

CN109270101A

公开(公告)日：

2019-01-25

发明(设计)人：

王培菅豫梅廖军薛林罗晓军

申请人：

申请人地址：

643010 四川省自贡市大安区人民路111号

IPC主分类号：

G01N232202

IPC分类号：

G01N23223

代理机构：

成都天既明专利代理事务所(特殊普通合伙) 51259

代理人：

彭立琼;李钦

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-25	公开	公开
2022-04-08	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 23/2202 申请公布日:20190125
2019-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/2202 申请日:20180910

共 50 条

[1]

X射线荧光光谱法测定钢渣中镧、铈和钡含量的方法 [P].

王彬果 ;

赵靖 ;

张改梅 ;

商英 ;

鲍希波 .

中国专利 :CN108508050A ,2018-09-07

[2]

X射线荧光光谱法测定高硫铝土矿中九种物质含量的方法 [P].

刘静 ;

张树朝 ;

马慧侠 ;

彭展 ;

白万里 ;

孙珊珊 .

中国专利 :CN112179930B ,2024-01-30

[3]

X射线荧光光谱法测定高硫铝土矿中九种物质含量的方法 [P].

刘静 ;

张树朝 ;

马慧侠 ;

彭展 ;

白万里 ;

孙珊珊 .

中国专利 :CN112179930A ,2021-01-05

[4]

X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107389716A ,2017-11-24

[5]

通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107367521A ,2017-11-21

[6]

一种X射线荧光光谱法测定氟化铝中元素的方法 [P].

张爱芬 ;

张树朝 ;

马慧侠 .

中国专利 :CN101059456A ,2007-10-24

[7]

一种X射线荧光光谱法测定铁矿石中成分含量的方法 [P].

王曼 ;

赵蕾 ;

邵海秀 .

中国专利 :CN114441578A ,2022-05-06

[8]

X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法 [P].

宋祖峰 ;

阚斌 ;

陆尹 ;

徐洁 .

中国专利 :CN103743769A ,2014-04-23

[9]

X射线荧光光谱法测定铁矿石中杂质的方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107179330A ,2017-09-19

[10]

X射线荧光光谱法测定白刚玉中杂质组分含量的方法 [P].

张蕾 ;

陈宁娜 ;

许超 .

中国专利 :CN113447330A ,2021-09-28

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