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一种使用方便的电子元器件测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201920697762.X
申请日
:
2019-05-16
公开(公告)号
:
CN210572517U
公开(公告)日
:
2020-05-19
发明(设计)人
:
孟召阳
申请人
:
申请人地址
:
350007 福建省福州市仓山区建新镇金洲北路7号16号楼二层203室
IPC主分类号
:
G01R3100
IPC分类号
:
G01R3166
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-05-19
授权
授权
共 50 条
[1]
一种使用方便的电子元器件测试装置
[P].
吴三亨
论文数:
0
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0
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0
吴三亨
.
中国专利
:CN209979696U
,2020-01-21
[2]
一种使用方便的电子元器件检测测试设备
[P].
罗超
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罗超
;
沈久安
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沈久安
;
苏毅
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苏毅
.
中国专利
:CN212905032U
,2021-04-06
[3]
一种电子元器件测试装置
[P].
邹智鹏
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邹智鹏
.
中国专利
:CN212845687U
,2021-03-30
[4]
一种电子元器件测试装置
[P].
王柔石
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王柔石
;
陈历武
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陈历武
;
黄公平
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黄公平
;
周春国
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周春国
;
雷艾平
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雷艾平
.
中国专利
:CN211263640U
,2020-08-14
[5]
电子元器件测试装置
[P].
刘世凯
论文数:
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0
刘世凯
.
中国专利
:CN115586386A
,2023-01-10
[6]
一种电子元器件的测试装置
[P].
徐程
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
徐程
;
郭明星
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
郭明星
;
周涛
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
周涛
.
中国专利
:CN119845842B
,2025-10-17
[7]
一种电子元器件的测试装置
[P].
张海平
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张海平
;
杜胜利
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杜胜利
;
郭成龙
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郭成龙
;
梁凤
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梁凤
;
张建坤
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张建坤
;
刘慧
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刘慧
.
中国专利
:CN206863070U
,2018-01-09
[8]
一种电子元器件的测试装置
[P].
徐程
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
徐程
;
郭明星
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
郭明星
;
周涛
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
周涛
.
中国专利
:CN119845842A
,2025-04-18
[9]
一种电子元器件测试装置
[P].
陆晓东
论文数:
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陆晓东
.
中国专利
:CN108710004A
,2018-10-26
[10]
一种电子元器件测试装置
[P].
张勇
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张勇
;
夏欢
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夏欢
;
王耀辉
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王耀辉
.
中国专利
:CN207263797U
,2018-04-20
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