一种电子元器件的测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510073743.X

申请日：

2025-01-16

公开(公告)号：

CN119845842B

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

徐程郭明星周涛

申请人：

扬州朗科智能科技有限公司

申请人地址：

225001 江苏省扬州市经济开发区扬子江中路186号扬州智谷科技综合体B座505

IPC主分类号：

G01N17/00

IPC分类号：

代理机构：

深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405

代理人：

陈炎

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-17	授权	授权
2025-05-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 17/00申请日:20250116
2025-04-18	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电子元器件的测试装置 [P].

徐程 ;

郭明星 ;

周涛 .

中国专利 :CN119845842A ,2025-04-18

[2]

一种电子元器件测试装置 [P].

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05

[3]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN118362851A ,2024-07-19

[4]

一种电子元器件测试装置 [P].

潘帮哲 ;

刘静 ;

谭吉涛 ;

谭丽娟 .

中国专利 :CN217901908U ,2022-11-25

[5]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN107807317B ,2024-05-28

[6]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN107807317A ,2018-03-16

[7]

一种电子元器件移动测试装置 [P].

尚忠贵 ;

朱芸 ;

李长 .

中国专利 :CN214953862U ,2021-11-30

[8]

电子元器件测试装置 [P].

刘世凯 .

中国专利 :CN115586386A ,2023-01-10

[9]

一种电子元器件的测试装置 [P].

张海平 ;

杜胜利 ;

郭成龙 ;

梁凤 ;

张建坤 ;

刘慧 .

中国专利 :CN206863070U ,2018-01-09

[10]

一种电子元器件测试装置 [P].

陆晓东 .

中国专利 :CN108710004A ,2018-10-26

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