一种电子元器件移动测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202121364200.7
申请日
2021-06-19
公开(公告)号
CN214953862U
公开(公告)日
2021-11-30
发明(设计)人
尚忠贵 朱芸 李长
申请人
申请人地址
243100 安徽省马鞍山市当涂县五星佳苑74栋1701
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
G01R104
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
张勇 ;
夏欢 ;
王耀辉 .
中国专利 :CN207263797U ,2018-04-20
[2]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
史金屏 .
中国专利 :CN221426803U ,2024-07-26
[3]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
马睿 ;
代云启 ;
张志刚 .
中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05
[4]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
邹智鹏 .
中国专利 :CN212845687U ,2021-03-30
[5]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
潘帮哲 ;
刘静 ;
谭吉涛 ;
谭丽娟 .
中国专利 :CN217901908U ,2022-11-25
[6]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
许晓伟 .
中国专利 :CN217156696U ,2022-08-09
[7]
一种电子元器件生产用测试装置 [P]. 
池景冬 ;
池景波 .
中国专利 :CN210923850U ,2020-07-03
[8]
一种电子元器件老练测试装置 [P]. 
杨丰 .
中国专利 :CN216718565U ,2022-06-10
[9]
一种电子元器件耐压测试装置 [P]. 
潘君威 .
中国专利 :CN214895619U ,2021-11-26
[10]
一种电子元器件的测试装置 [P]. 
徐程 ;
郭明星 ;
周涛 .
中国专利 :CN119845842B ,2025-10-17