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一种电子元器件移动测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121364200.7
申请日
:
2021-06-19
公开(公告)号
:
CN214953862U
公开(公告)日
:
2021-11-30
发明(设计)人
:
尚忠贵
朱芸
李长
申请人
:
申请人地址
:
243100 安徽省马鞍山市当涂县五星佳苑74栋1701
IPC主分类号
:
G01R3100
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-30
授权
授权
共 50 条
[1]
一种电子元器件测试装置
[P].
张勇
论文数:
0
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0
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张勇
;
夏欢
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夏欢
;
王耀辉
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0
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0
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王耀辉
.
中国专利
:CN207263797U
,2018-04-20
[2]
一种电子元器件测试装置
[P].
史金屏
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0
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机构:
深圳市赛华检测技术有限公司
深圳市赛华检测技术有限公司
史金屏
.
中国专利
:CN221426803U
,2024-07-26
[3]
一种电子元器件测试装置
[P].
马睿
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0
马睿
;
代云启
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代云启
;
张志刚
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张志刚
.
中国专利
:CN206074755U
,2017-04-05
[4]
一种电子元器件测试装置
[P].
邹智鹏
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0
邹智鹏
.
中国专利
:CN212845687U
,2021-03-30
[5]
一种电子元器件测试装置
[P].
潘帮哲
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潘帮哲
;
刘静
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刘静
;
谭吉涛
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谭吉涛
;
谭丽娟
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谭丽娟
.
中国专利
:CN217901908U
,2022-11-25
[6]
一种电子元器件测试装置
[P].
许晓伟
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许晓伟
.
中国专利
:CN217156696U
,2022-08-09
[7]
一种电子元器件生产用测试装置
[P].
池景冬
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池景冬
;
池景波
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池景波
.
中国专利
:CN210923850U
,2020-07-03
[8]
一种电子元器件老练测试装置
[P].
杨丰
论文数:
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0
杨丰
.
中国专利
:CN216718565U
,2022-06-10
[9]
一种电子元器件耐压测试装置
[P].
潘君威
论文数:
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0
潘君威
.
中国专利
:CN214895619U
,2021-11-26
[10]
一种电子元器件的测试装置
[P].
徐程
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
徐程
;
郭明星
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
郭明星
;
周涛
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机构:
扬州朗科智能科技有限公司
扬州朗科智能科技有限公司
周涛
.
中国专利
:CN119845842B
,2025-10-17
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