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一种电子元器件耐压测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120455951.3
申请日：
2021-03-03
公开(公告)号：
CN214895619U
公开(公告)日：
2021-11-26
发明(设计)人：
潘君威
申请人：
申请人地址：
336100 江西省宜春市万载县工业园
IPC主分类号：
G01R3112
IPC分类号：
G01R104
G01R102
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-11-26 | 授权 | 授权 |