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多光谱微观三维形貌检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201922043481.5
申请日
:
2019-11-21
公开(公告)号
:
CN210741401U
公开(公告)日
:
2020-06-12
发明(设计)人
:
叶一青
易定容
孔令华
蒋威
朱星星
申请人
:
申请人地址
:
315000 浙江省宁波市鄞州区启明路655-77号
IPC主分类号
:
G01B1124
IPC分类号
:
代理机构
:
成都时誉知识产权代理事务所(普通合伙) 51250
代理人
:
王杰
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-06-12
授权
授权
共 50 条
[1]
多光谱微观三维形貌检测装置及方法
[P].
易定容
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易定容
;
叶一青
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叶一青
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孔令华
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孔令华
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蒋威
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蒋威
;
朱星星
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朱星星
.
中国专利
:CN110726380A
,2020-01-24
[2]
多光谱大视场微观三维形貌测量装置
[P].
蒋威
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蒋威
;
易定容
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易定容
;
叶一青
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叶一青
;
孔令华
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孔令华
;
朱星星
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朱星星
.
中国专利
:CN210603219U
,2020-05-22
[3]
多光谱大视场微观三维形貌测量装置及方法
[P].
易定容
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易定容
;
叶一青
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叶一青
;
孔令华
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孔令华
;
蒋威
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蒋威
;
朱星星
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朱星星
.
中国专利
:CN110763153A
,2020-02-07
[4]
一种微观三维形貌的检测装置
[P].
张鹏斌
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上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
张鹏斌
;
刘健鹏
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
刘健鹏
;
顾玥
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
顾玥
;
陈鲁
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
陈鲁
.
中国专利
:CN120426905B
,2025-10-31
[5]
材料断口表面微观三维形貌干涉检测装置
[P].
邹文栋
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邹文栋
;
王代君
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王代君
;
徐章程
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徐章程
;
肖慧荣
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肖慧荣
;
陈春根
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陈春根
;
朱丽华
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朱丽华
.
中国专利
:CN104390604B
,2015-03-04
[6]
一种微观三维形貌的检测装置
[P].
张鹏斌
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
张鹏斌
;
刘健鹏
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
刘健鹏
;
顾玥
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上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
顾玥
;
陈鲁
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
陈鲁
.
中国专利
:CN120426905A
,2025-08-05
[7]
三维形貌检测装置
[P].
王伟诚
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王伟诚
;
郭世炫
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郭世炫
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陈金亮
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陈金亮
.
中国专利
:CN101750027B
,2010-06-23
[8]
基于多波长显微干涉的三维形貌检测装置
[P].
沈涛
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沈涛
;
周燕
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周燕
.
中国专利
:CN206601106U
,2017-10-31
[9]
微观物体三维形貌光学测量装置
[P].
吕植勇
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吕植勇
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严新平
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严新平
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萧汉梁
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萧汉梁
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吴青
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吴青
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赵辉
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赵辉
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李大光
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李大光
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何晓昀
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何晓昀
.
中国专利
:CN2804794Y
,2006-08-09
[10]
基于光栅投影三维成像的多光谱三维形貌测量方法及装置
[P].
魏溉
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魏溉
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张松
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张松
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郑丽丽
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郑丽丽
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张辉
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张辉
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张宇鹏
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张宇鹏
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赵雄涛
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赵雄涛
.
中国专利
:CN112097688A
,2020-12-18
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