一种射频泄漏测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220551079.3

申请日：

2012-10-25

公开(公告)号：

CN202916359U

公开(公告)日：

2013-05-01

发明(设计)人：

宋博

申请人：

申请人地址：

710075 陕西省西安市高新区锦业路69号现代企业中心东区2-10502室

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R2908

代理机构：

西安吉盛专利代理有限责任公司 61108

代理人：

张培勋

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101637489570 IPC(主分类):G01R 31/00 专利号:ZL2012205510793 申请日:20121025 授权公告日:20130501 终止日期:20141025
2013-05-01	授权	授权

共 50 条

[1]

一种射频泄漏测试方法 [P].

宋博 .

中国专利 :CN102955085A ,2013-03-06

[2]

一种射频芯片测试装置 [P].

车志东 ;

陈龙 .

中国专利 :CN218383163U ,2023-01-24

[3]

液压泄漏测试装置 [P].

班景江 ;

程道广 ;

马鸿杰 ;

严定国 ;

杨正东 .

中国专利 :CN202836896U ,2013-03-27

[4]

一种法兰密封泄漏测试装置 [P].

韦歆忠 ;

王国红 ;

罗冠迪 .

中国专利 :CN217276728U ,2022-08-23

[5]

一种泄漏测试装置 [P].

郭慧莹 ;

肖瑞柳 ;

张飞宇 ;

邹栋 ;

尹鹏 .

中国专利 :CN119164561A ,2024-12-20

[6]

一种泄漏测试装置 [P].

万君 .

中国专利 :CN221859822U ,2024-10-18

[7]

一种新型射频芯片测试装置 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575515U ,2022-01-18

[8]

一种射频测试装置 [P].

陈泽坚 .

中国专利 :CN2837946Y ,2006-11-15

[9]

一种射频测试装置 [P].

陈泽坚 .

中国专利 :CN202551050U ,2012-11-21

[10]

泄漏测试装置 [P].

狄伟 .

中国专利 :CN203349991U ,2013-12-18

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