一种新型射频芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121855838.0

申请日：

2021-08-10

公开(公告)号：

CN215575515U

公开(公告)日：

2022-01-18

发明(设计)人：

黄哲尔沈义明韦宗专

申请人：

申请人地址：

201805 上海市嘉定区墨玉南路1060号1307室-1

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297

代理人：

何艳娥

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-18	授权	授权

共 50 条

[1]

一种射频芯片测试装置 [P].

车志东 ;

陈龙 .

中国专利 :CN218383163U ,2023-01-24

[2]

一种射频芯片测试装置 [P].

赵峻豪 .

中国专利 :CN120254557A ,2025-07-04

[3]

一种芯片测试装置 [P].

王耀 .

中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16

[4]

一种芯片测试装置 [P].

李尚成 ;

高安明 ;

姜伟 .

中国专利 :CN220603638U ,2024-03-15

[5]

一种射频芯片测试装置 [P].

韩一博 ;

徐春阳 ;

盛洪宇 .

中国专利 :CN208432693U ,2019-01-25

[6]

一种射频芯片测试装置 [P].

潘晓燕 .

中国专利 :CN213581242U ,2021-06-29

[7]

一种射频芯片测试装置 [P].

杨振声 .

中国专利 :CN216248234U ,2022-04-08

[8]

一种射频芯片的便捷测试装置 [P].

钟林 ;

孙凯 ;

郑新年 ;

柯庆福 .

中国专利 :CN223650681U ,2025-12-09

[9]

一种微波射频芯片封装测试装置 [P].

郑新年 ;

钟林 ;

柯庆福 ;

孙凯 .

中国专利 :CN221707661U ,2024-09-13

[10]

一种芯片测试装置 [P].

余永庆 ;

唐章海 ;

王伟 .

中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18

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