一种微波射频芯片封装测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420234688.9

申请日：

2024-01-31

公开(公告)号：

CN221707661U

公开(公告)日：

2024-09-13

发明(设计)人：

郑新年钟林柯庆福孙凯

申请人：

晋江三伍微电子有限公司

申请人地址：

362200 福建省泉州市晋江市罗山街道世纪大道南段3001号三创园设计研发中心2号楼一层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

泉州市兴博知识产权代理事务所(普通合伙) 35238

代理人：

易敏

法律状态：

授权

国省代码：

福建省泉州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种射频芯片测试装置 [P].

车志东 ;

陈龙 .

中国专利 :CN218383163U ,2023-01-24

[2]

一种新型射频芯片测试装置 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575515U ,2022-01-18

[3]

一种测试两种封装芯片的测试装置 [P].

高国强 ;

钱瀛恺 .

中国专利 :CN216595410U ,2022-05-24

[4]

一种芯片测试装置及天线封装芯片 [P].

章欣 ;

王典 ;

李珊 .

中国专利 :CN210668281U ,2020-06-02

[5]

一种芯片测试装置 [P].

何士龙 .

中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08

[6]

一种芯片测试装置 [P].

李明 ;

郭晓旭 ;

樊晓华 ;

边海波 .

中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02

[7]

一种芯片测试装置 [P].

王耀 .

中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16

[8]

一种封装芯片测试装置 [P].

顾勋 ;

司敏 ;

邓升成 .

中国专利 :CN114740330A ,2022-07-12

[9]

一种微波射频测试装置 [P].

郭昊 ;

蔺韬 .

中国专利 :CN207780077U ,2018-08-28

[10]

一种便于拿取的芯片封装测试装置 [P].

万杰 ;

曾坚钢 .

中国专利 :CN115327349A ,2022-11-11

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