一种射频芯片测试装置

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申请号
CN202122799436.X
申请日
2021-11-16
公开(公告)号
CN216248234U
公开(公告)日
2022-04-08
发明(设计)人
杨振声
申请人
申请人地址
401420 重庆市綦江区古南街道金福大道57号5幢
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239
代理人
杨佳丽
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
潘晓燕 .
中国专利 :CN213581242U ,2021-06-29
[2]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
韩一博 ;
徐春阳 ;
盛洪宇 .
中国专利 :CN208432693U ,2019-01-25
[3]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
车志东 ;
陈龙 .
中国专利 :CN218383163U ,2023-01-24
[4]
一种新型射频芯片测试装置 [P]. 
黄哲尔 ;
沈义明 ;
韦宗专 .
中国专利 :CN215575515U ,2022-01-18
[5]
一种便于定位的射频芯片用测试装置 [P]. 
陈莹 .
中国专利 :CN213544744U ,2021-06-25
[6]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
赵峻豪 .
中国专利 :CN120254557A ,2025-07-04
[7]
一种射频芯片的便捷测试装置 [P]. 
钟林 ;
孙凯 ;
郑新年 ;
柯庆福 .
中国专利 :CN223650681U ,2025-12-09
[8]
多端口射频芯片测试装置 [P]. 
邓刘磊 ;
郑金汪 ;
钱永学 ;
黄鑫 ;
孟浩 ;
蔡光杰 .
中国专利 :CN223679295U ,2025-12-16
[9]
一种具有防护结构的射频芯片用测试装置 [P]. 
赵伟锋 .
中国专利 :CN214703722U ,2021-11-12
[10]
一种射频芯片的测试装置 [P]. 
刘峰 .
中国专利 :CN220508994U ,2024-02-20