一种射频芯片的测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202322098466.7
申请日
2023-08-04
公开(公告)号
CN220508994U
公开(公告)日
2024-02-20
发明(设计)人
刘峰
申请人
深圳兆讯科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村宝能科技园9栋5I
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R31/28
代理机构
合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142
代理人
张加宽
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
车志东 ;
陈龙 .
中国专利 :CN218383163U ,2023-01-24
[2]
一种便于定位的射频芯片用测试装置 [P]. 
陈莹 .
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[3]
一种射频芯片的便捷测试装置 [P]. 
钟林 ;
孙凯 ;
郑新年 ;
柯庆福 .
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[4]
一种新型射频芯片测试装置 [P]. 
黄哲尔 ;
沈义明 ;
韦宗专 .
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[5]
一种射频前端芯片的动态测试装置 [P]. 
孙凯 ;
郑新年 ;
柯庆福 .
中国专利 :CN215116507U ,2021-12-10
[6]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
韩一博 ;
徐春阳 ;
盛洪宇 .
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[7]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
潘晓燕 .
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[8]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
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[9]
一种射频芯片测试装置 [P]. 
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[10]
一种射频芯片测试装置及方法 [P]. 
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侯林 ;
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