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一种射频芯片的测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202322098466.7
申请日
:
2023-08-04
公开(公告)号
:
CN220508994U
公开(公告)日
:
2024-02-20
发明(设计)人
:
刘峰
申请人
:
深圳兆讯科技有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村宝能科技园9栋5I
IPC主分类号
:
G01R1/04
IPC分类号
:
G01R31/28
代理机构
:
合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142
代理人
:
张加宽
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-20
授权
授权
共 50 条
[1]
一种射频芯片测试装置
[P].
车志东
论文数:
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车志东
;
陈龙
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陈龙
.
中国专利
:CN218383163U
,2023-01-24
[2]
一种便于定位的射频芯片用测试装置
[P].
陈莹
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0
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0
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0
陈莹
.
中国专利
:CN213544744U
,2021-06-25
[3]
一种射频芯片的便捷测试装置
[P].
钟林
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机构:
晋江三伍微电子有限公司
晋江三伍微电子有限公司
钟林
;
孙凯
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机构:
晋江三伍微电子有限公司
晋江三伍微电子有限公司
孙凯
;
郑新年
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机构:
晋江三伍微电子有限公司
晋江三伍微电子有限公司
郑新年
;
柯庆福
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机构:
晋江三伍微电子有限公司
晋江三伍微电子有限公司
柯庆福
.
中国专利
:CN223650681U
,2025-12-09
[4]
一种新型射频芯片测试装置
[P].
黄哲尔
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黄哲尔
;
沈义明
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沈义明
;
韦宗专
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韦宗专
.
中国专利
:CN215575515U
,2022-01-18
[5]
一种射频前端芯片的动态测试装置
[P].
孙凯
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孙凯
;
郑新年
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郑新年
;
柯庆福
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柯庆福
.
中国专利
:CN215116507U
,2021-12-10
[6]
一种射频芯片测试装置
[P].
韩一博
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韩一博
;
徐春阳
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徐春阳
;
盛洪宇
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盛洪宇
.
中国专利
:CN208432693U
,2019-01-25
[7]
一种射频芯片测试装置
[P].
潘晓燕
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潘晓燕
.
中国专利
:CN213581242U
,2021-06-29
[8]
一种射频芯片测试装置
[P].
杨振声
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杨振声
.
中国专利
:CN216248234U
,2022-04-08
[9]
一种射频芯片测试装置
[P].
赵峻豪
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机构:
赵峻豪
赵峻豪
赵峻豪
.
中国专利
:CN120254557A
,2025-07-04
[10]
一种射频芯片测试装置及方法
[P].
胡信伟
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胡信伟
;
侯林
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侯林
;
李翔
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李翔
.
中国专利
:CN113828548A
,2021-12-24
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