一种光学位移测量系统

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专利类型
发明
申请号
CN201611206122.1
申请日
2016-12-23
公开(公告)号
CN106595495A
公开(公告)日
2017-04-26
发明(设计)人
徐飞鸿
申请人
申请人地址
410114 湖南省长沙市天心区万家丽南路2段960号
IPC主分类号
G01B1102
IPC分类号
G06F1750
代理机构
北京彭丽芳知识产权代理有限公司 11407
代理人
彭丽芳
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学位移测量系统 [P]. 
伍剑 ;
袁波 .
中国专利 :CN103791844B ,2014-05-14
[2]
一种光学位移测量系统 [P]. 
伍剑 ;
袁波 .
中国专利 :CN203687880U ,2014-07-02
[3]
一种光学位移测量系统 [P]. 
马军 ;
钟美鹏 ;
钭忠尚 ;
姚方周 ;
陈斌杰 ;
周余庆 .
中国专利 :CN118031809A ,2024-05-14
[4]
光学位移测量系统、处理装置和光学位移计 [P]. 
藤本隆司 .
中国专利 :CN115046492A ,2022-09-13
[5]
光学位移传感器以及光学位移测量设备 [P]. 
鸟井友成 ;
花田智纪 .
中国专利 :CN101196570B ,2008-06-11
[6]
一种光学位移传感器及光学位移检测系统 [P]. 
凌进中 ;
王晓蕊 ;
郭金坤 ;
袁影 ;
刘鑫 .
中国专利 :CN113405471B ,2021-09-17
[7]
离心模型3D光学位移测量系统 [P]. 
侯瑜京 ;
温彦锋 ;
张雪东 .
中国专利 :CN103162632B ,2013-06-19
[8]
光学位移测量器 [P]. 
罗琪 .
中国专利 :CN206919842U ,2018-01-23
[9]
一种用于高压力环境的光学位移测量系统 [P]. 
钟美鹏 ;
马军 ;
姚方舟 ;
鈄忠尚 ;
陈斌杰 ;
王公海 ;
周余庆 .
中国专利 :CN120370049A ,2025-07-25
[10]
光学位移计、光学位移计调节方法、和光学位移测量方法 [P]. 
田村谦太郎 ;
山县正意 .
中国专利 :CN108571927A ,2018-09-25